[发明专利]一种光学膜的缺陷判别方法

权利要求书

1.一种光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，具备：S1对在两面层叠有保护膜的光学膜进行检查并确认是否包括异物的阶段；

S2：剥离包括所述异物的光学膜两面的保护膜，并将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的阶段；

S3：得到所述合格品性异物和缺陷的选自下式1的密度、下式2的厚度、以及面积之中的一个以上的值与强度的关系相关的信息，并获取将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的基准的阶段；

S4：根据所述得到的信息，将光学膜的异物之中判别为合格品性异物的异物从缺陷中除外的阶段，

【式1】

异物的密度＝异物的面积/以异物的长轴为直径的圆的面积

【式2】

异物的厚度＝异物的面积/异物的长轴的长度，

所述阶段S3具备阶段S3-1，其中获取根据各异物的强度与密度的关系对合格品性异物和缺陷进行分类的一次分类基准。

2.根据权利要求1所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，所述阶段S3进一步具备阶段S3-2，其中获取根据各异物的强度与厚度的关系，对根据一次分类基准被分类为缺陷的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的二次分类基准。

3.根据权利要求2所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，所述阶段S3进一步具备阶段S3-3，其中获取根据各异物的强度与面积的关系，对根据二次分类基准被分类为缺陷的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的三次分类基准。

4.根据权利要求3所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，所述阶段S3进一步具备阶段S3-4，其中获取根据各异物的强度与面积的关系，对根据三次分类基准被分类为缺陷的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的四次分类基准。

5.根据权利要求4所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，所述阶段S3进一步具备阶段S3-5，其中获取根据各异物的强度与密度的关系，对根据所述一次、二次、三次和四次分类基准被分类为合格品性异物的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的五次分类基准。

6.根据权利要求5所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，所述阶段S3进一步具备阶段S3-6，其中获取根据各异物的强度与密度的关系，对根据所述五次分类基准被分类为缺陷的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的六次分类基准。

7.根据权利要求6所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，所述阶段S3进一步具备阶段S3-7，其中获取根据各异物的纵长与横长的关系，对根据所述六次分类基准被分类为合格品性异物的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的七次分类基准。

8.根据权利要求7所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，所述阶段S3进一步具备阶段S3-8，其中获取根据各异物的纵长与横长的关系，对根据所述七次分类基准被分类为合格品性异物的异物进一步分类为合格品性异物与缺陷的八次分类基准。

9.根据权利要求8所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，所述阶段S3进一步具备阶段S3-9，其中获取在横长超过被预先确定为缺陷的横长值，纵长超过被预先确定为缺陷的纵长值时，将根据所述八次分类基准被分类为缺陷的异物分类为缺陷的九次分类基准。

10.根据权利要求9所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，所述阶段S3-9在横长超过被预先确定为缺陷的横长值，纵长超过被预先确定为缺陷的纵长值时，将根据六次和七次分类基准被分类为缺陷的异物进一步分类为缺陷。

11.根据权利要求1所述的光学膜的缺陷判别方法，其特征在于，在所述阶段S4，将由光透射检查和正交尼科耳棱镜检查均筛选出的异物之中满足下式3的异物从缺陷中除外，

【式3】

(由正交尼科耳棱镜检查筛选的面积/由光透射检查筛选的面积)≥8。