[发明专利]一种光学膜的缺陷判别方法

说明书

本发明涉及光学膜的缺陷判别方法。本发明涉及光学膜的缺陷判别方法，根据具备：(S1)对在两面层叠有保护膜的光学膜进行检查并确认是否包括异物的阶段；(S2)剥离包括所述异物的光学膜两面的保护膜，并将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的阶段；(S3)得到所述合格品性异物和缺陷的选自下式1的密度、下式2的厚度、以及面积之中的一个以上的值与强度的关系相关的信息，并获取将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的基准的阶段；以及(S4)将根据所述得到的信息，光学膜的异物之中判别为合格品性异物的异物从缺陷中除外的阶段，从而根据正确地判定以往被判别为缺陷但实际上并不是缺陷等的物质，能够显著提升光学膜的制造收率，大幅减少制造成本。

技术领域

本发明涉及光学膜的缺陷判别方法。更详细而言，涉及对于偏振片，能够减少合格品的不良判定的不良检测方法。

背景技术

最近，液晶显示器或有机发光显示器、场致发射显示器(FED)、等离子体显示面板(PDP)等各种图像显示装置得到广泛开发使用。

另一方面，由于图像显示装置在进入市场之前在制造过程中产生各种不良，因此会经过很多检查过程，其中，在图像显示装置中使用最多的一个部件是偏光膜、相位差膜等各种光学膜，因此，光学膜的缺陷成为图像显示装置的不良的一个主要原因。检测光学膜的缺陷，首先判别是否是缺陷并进行正确的判定，然后，判别是缺陷时，缺陷的修复(repair)或废弃、进而缺陷原因的去除等从制造工序的生产收率的侧面来看无疑是重要的部分。

光学膜的制造为了产业性的大量生产而通常使用生产线工序。因此，缺陷的检测包括在生产线的特定的位置连续拍摄光学膜并在拍摄的部分判别缺陷。

在缺陷判别中，以往重要的是不漏掉各种缺陷来进行检测。对此，韩国公开专利第2010-24753号公报记载了对包括异物的封闭曲线与异物的面积进行比较来判别线状的异物的方法。

但是，由于近年的光学膜的大型化倾向导致部件的成本上升，要求更正确的缺陷判别方法，因此，仍然要求能够正确地判别缺陷的方法。

现有技术文献

专利文献

【专利文献1】韩国公开专利第2010-24753号公报

发明内容

发明要解决的技术问题

本发明的目的在于提供一种正确地判别光学膜的缺陷及非缺陷的方法。

本发明的目的在于提供一种光学膜的缺陷判别方法，将以往被判别为缺陷等但实际上并不是缺陷的判别为不是缺陷。

本发明的目的在于提供一种光学膜的缺陷判别装置，将以往被判别为缺陷等但实际上并不是缺陷的判别为不是缺陷。

解决技术问题的技术手段

1.一种光学膜的缺陷判别方法，具备：

(S1)对在两面层叠有保护膜的光学膜进行检查并确认是否包括异物的阶段；

(S2)剥离包括所述异物的光学膜两面的保护膜，并将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的阶段；

(S3)得到所述合格品性异物和缺陷的选自下式1的密度、下式2的厚度、以及面积之中的一个以上的值与强度的关系相关的信息，并获取将所述异物分类为合格品性异物与缺陷的基准的阶段；以及

(S4)根据所述得到的信息，将光学膜的异物之中判别为合格品性异物的异物从缺陷中除外的阶段，

【式1】

异物的密度＝异物的面积/以异物的长轴为直径的圆的面积

【式2】

异物的厚度＝异物的面积/异物的长轴的长度