[发明专利]过热检测电路及半导体装置

权利要求书

1.一种过热检测电路，其中包括：

作为感温元件的PN结元件；

向所述PN结元件供给偏置电流的恒流电路；

输出基准电压的基准电压电路；以及

比较所述PN结元件产生的电压和所述基准电压的比较器，

所述过热检测电路的特征在于，包括：

在高温下使泄漏电流在所述基准电压电路流动的第二PN结元件；以及

在高温下使所述恒流电路的泄漏电流旁路的第三PN结元件。

2.如权利要求1所述的过热检测电路，其特征在于，

所述比较器包括：

被输入所述PN结元件产生的电压和所述基准电压的差分放大电路；

栅极被输入所述差分放大电路的输出的MOS晶体管；

与所述MOS晶体管的漏极连接的第二恒流电路；以及

与所述第二恒流电路连接并且在高温下使泄漏电流流动的第四PN结元件，

所述MOS晶体管和所述第二恒流电路的连接点为所述比较器的输出端子。

3.一种包括权利要求1或2所述的过热检测电路的半导体装置。