[发明专利]一种蜘蛛网形表面结构的可控温加热盘在审
申请号: | 201510209279.9 | 申请日: | 2015-04-27 |
公开(公告)号: | CN104835764A | 公开(公告)日: | 2015-08-12 |
发明(设计)人: | 陈英男;姜崴;郑旭东;关帅 | 申请(专利权)人: | 沈阳拓荆科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 沈阳维特专利商标事务所(普通合伙) 21229 | 代理人: | 甄玉荃;霍光旭 |
地址: | 110179 辽宁省*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 蜘蛛网 表面 结构 可控 加热 | ||
技术领域
本发明涉及一种应用于半导体沉积设备的可控温加热盘的盘面结构。使用蜘蛛网形盘面气体分布形式,以实现对晶圆温度的精确控制。属于半导体薄膜沉积应用及制造技术领域。
背景技术
半导体设备在沉积反应时往往需要使晶圆及腔室空间预热或维持在沉积反应所需要的温度,大多数半导体沉积设备都会使用加热盘或静电卡盘来实现给晶圆预热的目的,但因为沉积反应多是在真空条件下进行,真空环境因缺乏导热介质,热传导性能较差。往往无法快速将晶圆预热到所需温度,或是在沉积反应前无法均匀的将晶圆预热。在有射频参与的半导体镀膜设备中,当射频所激发的能量到达晶圆表面时,因为热传导介质的缺乏,往往又会使晶圆表面的温度快速升高,使得晶圆表面温度超出沉积所需温度,而使晶圆发生损坏。随着晶圆尺寸的逐渐增大,晶圆本身的温度均匀性直接决定着晶圆品质的好或坏,快速、准确的控温对生产效率的提高及产品良率的提高都是至关重要的。
现有的半导体沉积设备加热盘及静电卡盘大都只具有加热盘自身的温度调节及控温功能,对于晶圆的温度是无法达到精确控制的。然而沉积反应所最急需的确是对晶圆温度的快速、准确控制。只有将晶圆的温度快速、准确的维持在沉积反应所需的温度范围内,才能实现对产品良率及效率的提升。
发明内容
本发明以解决上述问题为目的,主要解决现有的加热盘及静电卡盘所存在的无法快速、准确控制晶圆温度的问题。本发明通过进气通道在加热盘表面与晶圆间形成一定的气隙,并在其中通入热传导效果较好的导热气体作为传热介质,经加热盘的温度快速的传到晶圆,或是将晶圆的温度迅速的传至加热盘上导出。通过合理的盘面结构设计,使得导热介质能够快速均匀的在空隙中流动,及时实现加热盘及晶圆的热交换。
为实现上述目的,本发明采用下述技术方案:一种蜘蛛网形表面结构的可控温加热盘。采用在加热盘表面设计一种蜘蛛网形的沟槽结构,中间设有气体导入的入口,有一个圆形空间用来释放气体进入时压力及将其通过多条径向沟槽将中间进入的导热介质输送到加热盘的边缘区域,并有圆周方向分布的沟槽与径向沟槽联通,使得导热介质之间的流动与导通更顺畅,加强因各介质所流经空间不同而造成的温度不均匀现象,以精确控制晶圆温度。气体最终会在加热盘边缘的气体回收孔中从加热盘内部返回至导热介质冷却装置,并在其中实现冷却,以便将多余的热量带走。冷却后的气体会再次从加热盘中心流入,以实现导热介质的循环流动。
本发明的有益效果及特点:
通过蜘蛛网形表面结构的沟槽,在加热盘及晶圆之间形成一定的气隙空间,并在该气隙空间中通入热传导系数较高的导热介质,用以加强真空环境下的热传导效率。通过合理化设计的表面气体分布结构,使得导热介质能够直接、快速、均匀的分布在加热盘与晶圆之间,并依据介质流动所带来的压力及流速变化规律确定各个区域大小或沟槽尺寸,来调节导热介质所带走的热量,以实现对晶圆温度的快速准确控制。进一步提高晶圆的成品率及半导体沉积设备的生产效率。
附图说明
图1是本发明的结构示意图
图中零件标号分别代表:
1、中心进气孔;2、气体流动环形沟槽;3、气体回收孔;4、加热盘;5、气体流动径向沟槽。
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。
具体实施方式
实施例1
如图1所示,一种蜘蛛网形表面结构的可控温加热盘,包括制有中心进气孔1的加热盘4。所述加热盘4表面设计有蜘蛛网形的沟槽结构及边缘制有气体回收孔3。所述蜘蛛网形的沟槽结构是由沿加热盘4圆心所设的N条气体流动环形沟槽2与N条气体流动径向沟槽5构成,气体流动环形沟槽2与气体流动径向沟槽的数量依实际需要而定。上述环形沟槽2与气体流动径向沟槽5相接并相通。
上述环形沟槽2与气体流动径向沟槽5各至少选择2条。
本发明的工作原理:热传导介质从加热盘4的中心进气孔1进入加热盘4的表面,在中心一个圆形空间用来释放气体进入时的压力。加热盘4表面沿蜘蛛网形布局的气体流动环形沟槽2,将热传导介质通过多条气体流动径向沟槽5从中间流动到加热盘4的边缘区域,并有圆周方向分布的沟槽与径向沟槽联通,使得导热介质之间的流动与导通更顺畅,加强因各介质所流经空间不同而造成的温度不均匀现象,以精确控制晶圆温度。气体最终会在加热盘4边缘的气体回收孔3中从加热盘4内部返回至导热介质冷却装置,并在其中实现冷却,以便将多余的热量带走。冷却后的气体会再次从加热盘中心流入,以实现导热介质的循环流动。也可将加热盘外圆的沟槽设计成开放式,使导热介质直接扩散至腔室空间而不收集介质重新进行循环。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造