[发明专利]存储装置及其控制方法在审
申请号: | 201510212991.4 | 申请日: | 2015-04-29 |
公开(公告)号: | CN105278870A | 公开(公告)日: | 2016-01-27 |
发明(设计)人: | 井上裕章 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储 装置 及其 控制 方法 | ||
1.一种存储装置,包括:
磁存储单元,其存储数据;
半导体存储单元;以及
控制器,其被配置为
基于数据的访问历史,判定是否控制所述半导体存储单元以存储一部分数据,以及
根据所述判定,控制所述半导体存储单元以存储该部分数据。
2.根据权利要求1所述的存储装置,其中
所述控制器被进一步配置为基于所述磁存储单元准备好读取数据所需的时间段,确定要被存储在所述半导体存储单元中的该部分数据的数据长度,以及控制所述半导体存储单元以存储具有所确定的数据长度的该部分数据。
3.根据权利要求2所述的存储装置,其中
所述访问历史指示当所述数据已被访问时的所述磁存储单元的操作状态,并且
所述控制器被进一步配置为基于所述磁存储单元的所述操作状态计算所述时间段。
4.根据权利要求2所述的存储装置,进一步包括:
第二半导体存储单元,其中
所述控制器被进一步配置为基于所述历史,控制所述第二半导体存储单元以存储所述磁存储单元中所述数据的数据起始位置、所述数据长度、以及所述数据的属性。
5.根据权利要求4所述的存储装置,其中
所述控制器被进一步配置为
判定读取请求是否针对存储在所述半导体存储单元中的该部分数据,以及
在所述控制器判定所述读取请求是针对存储在所述半导体存储单元中的该部分数据的情况下,使该部分数据从所述半导体存储单元中被读出,以及使在该部分之后的一部分数据从所述磁存储单元中被读出。
6.根据权利要求4所述的存储装置,其中
所述控制器被配置为基于存储在所述第二半导体存储单元中的所述数据起始位置和所述数据长度,判定读取请求是否针对存储在所述半导体存储单元中的该部分数据。
7.根据权利要求4所述的存储装置,其中
所述属性指示对所述数据的访问是否为顺序访问。
8.根据权利要求4所述的存储装置,其中
所述访问历史指示当所述数据已被访问时的所述磁存储单元的操作状态,并且
所述属性指示所述磁存储单元的所述操作状态。
9.根据权利要求8所述的存储装置,其中
所述磁存储单元包括磁介质和头,并且
所述操作状态指示所述磁介质的旋转状态和所述头的位置。
10.根据权利要求1所述的存储装置,其中
所述控制器被进一步配置为
判定读取请求是否针对存储在所述半导体存储单元中的该部分数据,以及
当所述控制器判定所述读取请求是针对存储在所述半导体存储单元中的该部分数据时,使该部分数据从所述半导体存储单元中被读出,以及使在该部分之后的一部分数据从所述磁存储单元中被读出。
11.一种用于控制存储装置的方法,该存储装置包括磁存储单元和半导体存储单元,所述方法包括:
将数据存储在所述磁存储单元中;
存储数据的访问历史;
基于所述历史判定一部分数据要被存储在所述半导体存储单元中,以及
将该部分数据存储在所述半导体存储单元中。
12.根据权利要求11所述的方法,进一步包括:
基于所述磁存储单元准备好读取数据所需的时间段,确定要被存储在所述半导体存储单元中的该部分数据的数据长度,其中
存储在所述半导体存储单元中的该部分数据具有所确定的数据长度。
13.根据权利要求12所述的方法,其中所述访问历史指示当所述数据已被访问时的所述磁存储单元的操作状态,所述方法进一步包括:
基于所述磁存储单元的所述操作状态计算所述时间段。
14.根据权利要求12所述的方法,进一步包括:
基于所述历史,存储所述磁存储单元中所述数据的数据起始位置、所述数据长度、以及所述数据的属性。
15.根据权利要求14所述的方法,其中
所述属性指示对所述数据的访问是否为顺序访问。
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