[发明专利]集成电路测试系统总定时精度校准装置

权利要求书

1.一种集成电路测试系统总定时精度校准装置，包括皮秒级定时精度校准适配接口板、射频连接器、数字实时示波器；

所述皮秒级定时精度校准适配接口板的信号通道与集成电路测试系统的测试通道连接，所述射频连接器设置在所述皮秒级定时精度校准适配接口板上，并通过皮秒级定时精度校准适配接口板与所述集成电路测试系统的测试通道对接，所述射频连接器通过射频线缆与所述数字实时示波器的测试通道连接，所述数字实时示波器通过GPIB总线与所述集成电路测试系统进行通信；

所述皮秒级定时精度校准适配接口板分为输入到输出定时准确度校准适配接口板、输入边沿置放精度校准适配接口板、输出边沿置放精度校准适配接口板；当测量输入到输出定时准确度时，使用输入到输出定时准确度校准适配接口板；当测量输入边沿置放精度时，使用输入边沿置放精度校准适配接口板；当测量输出边沿置放精度时，使用输出边沿置放精度校准适配接口板；

在皮秒级定时精度校准适配接口板上所有数字信号通道四周增加信号回流孔；

在输出边沿置放精度校准适配接口板中，采用与输入边沿置放精度校准适配接口板相同的参考通道，将除参考通道以外的同一块通道板上的数字信号通道两两分组并连接到射频继电器，每组分为输入通道和输出通道，对其他通道板上的数字信号通道，适当选取间隔若干个通道两两分组并连接到射频继电器，与所述数字信号通道对应的信号回流孔与射频连接器的地线相连，并在校准接口板上设置射频继电器，用于切换示波器测量通路和测试系统输出通道测量通路。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试系统总定时精度校准装置，其特征在于，在输入到输出定时准确度校准适配接口板中，将相邻的数字信号通道采用导线两两相连，并将相连数字信号通道四周对应的信号回流孔相连。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试系统总定时精度校准装置，其特征在于，在输入边沿置放精度校准适配接口板中，将集成电路测试系统同一块通道板上的一组数字信号通道分别通过射频连接器引出，并选取其中一个通道作为参考通道，将集成电路测试系统其他通道板上的数字信号通道间隔若干个通过射频连接器引出，与所述数字信号通道对应的信号回流孔与射频连接器的地线相连。

4.根据权利要求2至权利要求3中任意一项所述的集成电路测试系统总定时精度校准装置，其特征在于，所有相连的数字信号被相连的信号回流孔包围。

5.根据权利要求4所述的集成电路测试系统总定时精度校准装置，其特征在于，对输入到输出定时准确度校准适配接口板，相邻的数字信号通道互连的导线为最短等长导线；对输入边沿置放精度校准适配接口板，将数字通道信号通过射频连接器引出的导线为最短等长导线；对输出边沿置放精度校准适配接口板，射频继电器的两个输出信号引脚分别连接到射频连接器和集成电路测试系统输出通道的两段导线为最短等长导线。

6.根据权利要求4所述的集成电路测试系统总定时精度校准装置，其特征在于，在皮秒级定时精度校准适配接口板的空白区域设置一参考测试导线组，所述参考测试导线组包含所述皮秒级定时精度校准适配接口板上所有信号通道连接的布线方式，用于评估由校准适配接口板引入的测量时延和验证校准适配接口板验证校准装置的指标。

7.根据权利要求6所述的集成电路测试系统总定时精度校准装置，其特征在于，至少设置四组所述参考测试导线组。