[发明专利]一种用于锡膏检测精度检验的棱台参数测量方法和系统

权利要求书

1.一种用于锡膏检测精度检验的棱台参数测量方法，其特征在于，包括：

放置待测的棱台；

建立平面直角坐标系；

对所述棱台进行平行于下表面的横切，得到处于不同高度的n个横切面，所述n个横切面为1，2，…，i，…，n个横切面，1≤i≤n，获取所述n个横切面的参数，包括横切面的高度h_i，中心点坐标(x_i,y_i)和面积S_i，所述横切面的高度h_i为所述横切面与所述下表面的距离；

将所述棱台的n个横切面的参数带入预知的数学模型，得到4*n组方程，用最小二乘法确定所述数学模型，所述数学模型为：

其中，V_i为所述棱台的横切面以上棱台的体积，a₁，b₁，a₂，b₂，a₃，b₃，c₃，a₄，b₄，c₄，d₄为待定系数；

根据所述确定的数学模型，令V_i＝0，得到所述棱台的高度；令h_i＝0，求得所述棱台的体积。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述求得所述棱台的体积之后，还包括：将所述高度和所述体积与棱台的标准高度和体积做比较，将比较结果作为测量的精确度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述n为100，200或300。

4.一种锡膏检测精度检验的棱台参数测量系统，其特征在于，包括：

直角坐标系建立单元，用于建立平面直角坐标系；

切割单元，用于对所述棱台进行平行于下表面的横切，得到处于不同高度的n个横切面，所述n个横切面为1，2，…，i，…，n个横切面，1≤i≤n；

参数获取单元，用于获取所述n个横切面的参数，包括横切面的高度h_i，中心点坐标(x_i,y_i)和面积S_i，所述横切面的高度h_i为所述横切面与所述下表面的距离；

数学模型确定单元，用于将所述棱台的n个横切面的参数带入预知的数学模型，得到4*n组方程，用最小二乘法确定所述数学模型；

棱台参数获取单元，用于根据所述确定的数学模型，令V_i＝0，得到所述棱台的高度；令h_i＝0，求得所述待测棱台的体积。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，还包括：

精确度获取单元，用于将所述高度和所述体积与棱台的标准高度和体积做比较，将比较结果作为测量的精确度。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，还包括：

横切面个数设置单元，用于设置横切面的个数n，n为100，200或300。