[发明专利]一种基于非负矩阵分解的空间碎片材料分析方法有效
申请号: | 201510225447.3 | 申请日: | 2015-05-06 |
公开(公告)号: | CN104931504B | 公开(公告)日: | 2017-12-05 |
发明(设计)人: | 庄德文;唐轶峻;秦珍珍 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | G01N21/86 | 分类号: | G01N21/86 |
代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司33241 | 代理人: | 王利强 |
地址: | 310014 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 矩阵 分解 空间 碎片 材料 分析 方法 | ||
1.一种基于非负矩阵分解的空间碎片材料分析方法,其特征在于:所述空间碎片材料分析方法包括如下步骤:
步骤1,碎片光谱数据采集;
利用地基望远镜和无狭缝光栅,采集碎片光谱数据;
步骤2,光谱数据预处理;
(2.1)截去光谱两端高噪声波段:
将所测得的可见光波段[403-779]纳米,截去两端高噪声波段,剩下波长范围为[479-729]纳米;
(2.2)阈值化:
采用阈值化处理:
其中,f(x)为阈值化函数,选取阈值Th,若光谱数据x大于该阈值,则设置该项数据为所选择的阈值Th;若光谱数据x小于0,则设置该值为0;其它情形,保持不变;
(2.3)例外点去除
取同一圈次中观测所得的光谱数据,计算各光谱间的欧氏距离,求得欧氏距离的均值和标准差δ;计算每条光谱与同一圈次中其它光谱间的欧氏距离,并求其均值i为光谱序号,若则将第i条光谱作为例外点去除;
步骤3,非负矩阵分解;
给定非负矩阵V为m行n列矩阵,寻找非负矩阵因子W和H,使得V≈WH;其中,表示矩阵元素为非负实数,W为m行r列矩阵,H为r行n列矩阵,r为分解得到的基矢量个数,
为评估近似性能,给出代价函数及其相应迭代更新规则:
广义K_L散度:
其中α,μ,i,j,k,v为矩阵元素的下标,Σ表示求和;
步骤4,碎片材料谱辨认;
通过选择不同的初始化W和H值,得到碎片材料谱的候选者,利用已知的地面材料谱,由步骤4计算候选材料谱与地面材料谱的广义K_L散度,选取散度阈值D0,最后确定小于该散度阈值的候选谱为碎片材料谱的组成,记为W0。
2.如权利要求1所述的一种基于非负矩阵分解的空间碎片材料分析方法,其特征在于:所述方法还包括以下步骤:
步骤5,碎片材料丰度计算;
利用最小非负二乘法,其中,表示计算矢量各元素的平方和,Vi为第i条观测光谱矢量,W0为步骤4所确定的碎片材料光谱,可求得材料的丰度比例矢量X,各分量即为对应材料的丰度比例。
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