[发明专利]一种基于非负矩阵分解的空间碎片材料分析方法有效
申请号: | 201510225447.3 | 申请日: | 2015-05-06 |
公开(公告)号: | CN104931504B | 公开(公告)日: | 2017-12-05 |
发明(设计)人: | 庄德文;唐轶峻;秦珍珍 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | G01N21/86 | 分类号: | G01N21/86 |
代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司33241 | 代理人: | 王利强 |
地址: | 310014 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 矩阵 分解 空间 碎片 材料 分析 方法 | ||
技术领域
本发明涉及载人航天实施空间监测技术领域,尤其是一种空间碎片材料分析方法。
背景技术
自1957年10月前苏联发射首颗人造地球卫星以来,人类几十年的空间探索活动产生了大量的空间碎片,对人类航天活动的安全造成严重威胁,成为空间环境的主要污染源,并在一定程度上对航天活动的正常开展产生了影响。
随着中国的经济发展以及国家安全的需要,航天空间活动将愈来愈多,并在不久的将来,对应用卫星的需求更可能大增。这些应用卫星与国民经济关系密切,一旦受损,社会影响、经济影响巨大,甚至危及国家安全。而这些卫星运行区域大都分布在低轨道,处于空间碎片密集区域,受碰撞损伤的威胁很高。同时,持续开展载人航天活动、建立永久的有人值守轨道空间站,将会是中国航天事业发展的必然趋势。可以预期,对载人航天实施空间监测、预警也会成为中国航天不可回避的事实,在这样的背景下,对空间碎片的观测技术进行研究,具有重要的现实意义和研究价值。
传统空间碎片测量以位置信息测量为主,包括碎片的三维位置坐标、速度、加速度等参数,可衍生出各类地球轨道参数。为了提高碎片的监测预警能力,对测量系统除了要求获得其位置信息之外,更需要获得碎片的特征信息,如碎片的形状、体积、表面材料参数等特征信息,它对空间监测、预警尤为重要。
人造天体碎片的大小、形状、材料类别的确定,对于空间环境监测和预警至关重要。光谱测量技术是天体碎片分析的一种重要方法,人造天体碎片一般本身并不发光,其亮度来自太阳光的反射,仅由亮度变化不足以分辨碎片的材料组成,分析其光谱特征成为我们辨认碎片类别的主要手段。
在地基(地面观测站)条件下,光谱仪所获取光谱由碎片材料成分、太阳光谱、地球大气吸收谱,以及测量过程中产生的噪声等因素综合决定,因而由光谱推断碎片种类并没有一个解析解。
空间碎片的测量有雷达测量和光学测量,雷达测量可以克服天气、太阳和及地影的影响,能全天候全天时工作,但由于雷达测量时,其反射回波信号的强度与距离的四次方成反比,因而雷达测量比较适合于低地球轨道的小碎片;另外雷达测量需要发射信号,属于主动探测形式,这在某些情形下可能不合适。
而对于无源光学测量,信号反射强度与物体的距离的平方成反比,因而能探测高轨道碎片,另外它仅接收碎片对太阳光的反射,属于被动探测形式,可较好的适合于某些特殊场合。
基于光谱数据对碎片材料进行分析,所观测的碎片光谱是多种材料光谱的混合,而材料光谱的混合机制仍很复杂,它与碎片的姿势、材料组成、光照条件、观测角度等因素有关,甚至真空环境、辐照强度、材料老化都会改变混合谱形态,这使得由混合谱计算材料谱及混合比例成为一个典型的病态问题,并没有一个解析解。
发明内容
为了克服已有空间碎片材料分析方法的无法适用于深空环境、准确性较差的不足,本发明提供一种有效适用于深空环境、准确性较好的基于非负矩阵分解的空间碎片材料分析方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
一种基于非负矩阵分解的空间碎片材料分析方法,包括如下步骤:
步骤1,碎片光谱数据采集;
利用地基望远镜和无狭缝光栅,采集碎片光谱数据;
步骤2,光谱数据预处理;
(2.1)截去光谱两端高噪声波段:
将所测得的可见光波段[403-779]纳米,截去两端高噪声波段,剩下波长范围为[479-729]纳米;
(2.2)阈值化:
采用阈值化处理:
其中,f(x)为阈值化函数,选取阈值Th,若光谱数据x大于该阈值,则设置该项数据为所选择的阈值Th;若光谱数据x小于0,则设置该值为0;其它情形,保持不变;
(2.3)例外点去除
取同一圈次中观测所得的光谱数据,计算各光谱间的欧氏距离,并求得欧氏距离的均值和标准差δ;计算每条光谱与同一圈次中其它光谱间的欧氏距离,并求其均值i为光谱序号,若则将第i条光谱作为例外点去除;
步骤3,非负矩阵分解;
给定非负矩阵(m行,n列矩阵),寻找非负矩阵因子(m行,r列矩阵)和(r行,n列矩阵),使得V≈WH;其中表示矩阵元素为非负实数,r为分解得到的基矢量个数,
为评估近似性能,给出代价函数及其相应迭代更新规则:
广义K_L散度:
其中α,μ,i,j,k,ν为矩阵元素的下标,Σ表示求和;
步骤4,碎片材料谱辨认;
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