[发明专利]一种半导体检验自动标记装置

权利要求书

1.一种半导体检验自动标记装置，包括显微镜、检验平台、底座，其特征在于还包括移动板、直线电机、丝杠、标记组件，所述的移动板位于底座上端，所述的移动板与底座滑动相连，所述的直线电机位于移动板下表面右侧，所述的直线电机与移动板螺纹相连，所述的丝杠贯穿直线电机，所述的丝杠与直线电机螺纹相连且与底座转动相连，所述的标记组件还包括支架、气缸、套管、导柱、标记笔、行程开关，所述的支架位于移动板上表面右侧上端，所述的支架与移动板螺纹相连，所述的气缸位于支架下端，所述的气缸与支架螺纹相连，所述的套管位于气缸下端，所述的套管与气缸螺纹相连，所述的导柱位于套管下端，所述的导柱与套管螺纹相连，所述的标记笔位于导柱外壁两侧，所述的标记笔与导柱焊接相连，所述的行程开关位于支架中部，所述的行程开关与支架螺纹相连；

所述的底座上表面有滑轨，所述的滑轨与底座螺纹相连；

所述的移动板下表面有滑块，所述滑块与移动板螺纹相连；

所述的移动板上表面还设有第一按钮、第二按钮、第三按钮，所述的第一按钮与移动板螺纹相连，所述的第二按钮与移动板螺纹相连，所述的第三按钮与移动板螺纹相连；

所述的标记笔顶部还设有塞头，所述的塞头与标记笔紧配相连；

所述的塞头还设有排气孔；

所述的标记笔还设有笔芯，所述的笔芯位于标记笔内部。