[发明专利]基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法有效
申请号: | 201510243591.X | 申请日: | 2015-05-13 |
公开(公告)号: | CN104834601B | 公开(公告)日: | 2017-12-05 |
发明(设计)人: | 韩继梁;李丽萍;惠晓辉;陈萌萌;赵彩云 | 申请(专利权)人: | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 杭州千克知识产权代理有限公司33246 | 代理人: | 周希良 |
地址: | 201616 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 android 系统 智能 终端 内存 泄露 自动化 测试 方法 | ||
1.一种基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤S1、设置智能终端处于激活状态;
步骤S2、获取智能终端当前的RAM值和CPU值;
步骤S3、将获取的RAM值和CPU值进行排序;
步骤S4、依次打开智能终端上的所有APP后再关闭,对RAM值和CPU值进行监测;采用全自动运行方式反复循环调用智能终端中每个APP,然后查看是否执行RAM释放的操作;其中,通过Android系统中的命令Intent.ACTION_MAIN和Intent.CATEGORY_LAUNCHER分别用于获取智能终端APP并打开;自动运行APP时,能够设定APP重复运行次数及单次运行时间;
步骤S5、当出现异常状况时,开启LOG抓取功能,自动记录测试状态。
2.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S1中包括以下步骤:
1)开启智能终端的Root权限,获取智能终端的参数;
2)设置智能终端处于不灭屏不屏保的激活状态。
3.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S2中,运用JAVA技术来获取智能终端的RAM值和CPU值。
4.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述RAM值和CPU值分别为RAM使用率参数和CPU使用率参数。
5.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:自动运行APP时,按照APP的名称、类型或大小先后运行。
6.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S5中,所述异常状况包括智能终端死机、重启和界面异常。
7.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S5中,当智能终端的RAM值或CPU值大于80%时,则开启LOG抓取功能,自动记录测试状态。
8.根据权利要求1所述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法,其特征在于:所述步骤S3中,还能够实时显示智能终端运行时消耗最多RAM的程序和消耗最多CPU的程序。
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