[发明专利]基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种测试方法，特别是涉及一种基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法。

背景技术

随着智能手机、平板电脑等智能终端的不断普及和发展，以及Android操作系统功能的不断开发，智能终端上的软件日益丰富，更新也更快更频繁。相应地，对智能终端内存的占用和消耗也越来越大。

然而，在智能终端的使用过程中往往会出现内存泄露的情况。目前，智能终端的内存泄露多数是由其上的APP的使用造成的。这是因为关闭APP后，内存并没有得到释放，会逐渐累积导致内存奔溃和/或出现异常情况。由于内存泄露和智能终端的RAM和CPU有着直接关系，因此可以从RAM和CPU中看出移动终端内存泄露时的问题。

现有技术中，通常采用以下两种方法来测试是否存在内存泄露：

(1)手动捕捉内存的泄露奔溃和异常

然而，该方法需要消耗大量人力和时间，且测试结果直接取决于测试人员的水平高低，测试结果的可靠性不高。

(2)采用专门的测试工具进行内存泄露测试

如申请号为201410519757.1、发明名称为《一种智能移动终端内存自动化测试方法与装置》的中国发明专利公开一种智能移动终端内存自动化测试方法，应用于使用Android操作系统的智能移动终端，包括下列步骤：S1、智能移动终端常驻服务的内存泄露问题自动测试判定，该步骤针对Android操作系统移动终端的后台常驻服务，通过调用Android操作系统自带的随机模拟用户操作工具，对智能移动终端进行特定t次数模拟用户随机操作以达到内存泄露问题出现的操作条件，然后根据Android操作系统后台常驻服务内存占用记录的趋势对比，判定智能移动终端中Android操作系统后台常驻服务的内存是否存在泄露问题；S2、智能移动终端单独应用的内存泄露问题自动测试判定，该步骤针对Android操作系统移动终端的各个常规应用采用遍历检测的方法，通过调用Android操作系统自带的随机模拟用户操作工具，对智能移动终端各个应用进行特定t次数模拟用户随机操作以达到内存泄露问题出现的操作条件，然后将经过n次测试完并进行优化清理后记录的单独应用占用的内存值和之前记录的n次智能移动终端单独应用的内存泄露问题自动测试获取的单独应用占用的内存值进行对比，逐个依次判定智能移动终端中Android操作系统各个常规应用的内存是否存在泄露问题。然而，该方法无法针对移动终端中每个APP单独的进行测试和检测，无法看到当前实时最高的RAM和CPU的值以及排序。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法，通过获取智能终端中RAM和CPU的参数来监控智能终端的内存运行情况，以判断内存是否发生泄露，并能够实时显示智能终端运行时消耗最多RAM的程序和消耗最多CPU的程序。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法，包括以下步骤：步骤S1、设置智能终端处于激活状态；步骤S2、获取智能终端当前的RAM值和CPU值；步骤S3、将获取的RAM值和CPU值进行排序；步骤S4、依次打开智能终端上的所有APP后再关闭，对RAM值和CPU值进行监测；步骤S5、当出现异常状况时，开启LOG抓取功能，自动记录测试状态。

根据上述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法，其中：所述步骤S1中包括以下步骤：

1)开启智能终端的Root权限，获取智能终端的参数；

2)设置智能终端处于不灭屏不屏保的激活状态。

根据上述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法，其中：所述步骤S2中，运用JAVA技术来获取智能终端的RAM值和CPU值。

根据上述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法，其中：所述RAM值和CPU值分别为RAM使用率参数和CPU使用率参数。

根据上述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法，其中：所述步骤S4时，采用全自动运行方式反复循环调用智能终端中每个APP，然后查看是否执行RAM释放的操作。

进一步地，根据上述的基于Android系统的智能终端内存泄露的自动化测试方法，其中：自动运行APP时，能够设定APP重复运行次数及单次运行时间。