[发明专利]用于低接地体校正的方法和系统

说明书

用于输入装置的处理系统，包括耦合到第一传感器电极和第二传感器电极的传感器模块。该传感器模块包括传感器电路并配置成获取第一传感器电极和第二传感器电极之间的互电容性度量，并且获取第一传感器电极和第二传感器电极的绝对电容性度量。该处理系统进一步包括确定模块，其配置成确定来自该互电容性度量的投影和来自该绝对电容性度量的曲线，以及基于良好接地值、该投影和该曲线确定低接地体校正因子。

技术领域

本发明一般涉及电子装置。

背景技术

包括接近传感器装置(通常也称为触摸垫或触摸传感器装置)的输入装置广泛用于多种电子系统中。接近传感器装置典型地包括感测区，其通常由表面来区分，在其中接近传感器装置确定一个或多个输入对象的存在、位置和/或运动。接近传感器装置可用于为电子系统提供接口。例如，接近传感器装置通常用作较大计算系统(诸如集成在或外设于笔记本或桌上型电脑的不透明触摸垫)的输入装置。接近传感器装置也通常用于较小计算系统中(诸如集成于蜂窝电话中的触摸屏)。

发明内容

一般而言，在一个方面，本发明的实施例涉及输入装置的处理系统。处理系统包括耦合至第一传感器电极和第二传感器电极的传感器模块。该传感器模块包括传感器电路，并配置成获取第一传感器电极和第二传感器电极之间的互电容性度量，以及获取第一传感器电极和第二传感器电极的绝对电容性度量。该处理系统进一步包括确定模块，其配置成确定来自该互电容性度量的投影和来自该绝对电容性度量的曲线(profile)，并基于良好接地值、该投影和该曲线确定低接地体校正因子。

一般而言，在一个方面，本发明的实施例涉及输入装置，其包括配置成感测该输入装置感测区中输入对象的第一传感器电极和第二传感器电极，以及处理系统。该处理系统配置成获取第一传感器电极和第二传感器电极之间的互电容性度量，获取第一传感器电极和第二传感器电极的绝对电容性度量，确定来自该互电容性度量的投影和来自该绝对电容性度量的曲线，并基于良好接地值、该投影和该曲线确定低接地体校正因子。

一般而言，在一个方面，本发明的实施例涉及用于输入装置的电容性感测的方法。该方法包括获取第一传感器电极和第二传感器电极之间的互电容性度量，并获取第一传感器电极和第二传感器电极的绝对电容性度量。该方法进一步包括确定来自该互电容性度量的投影和来自该绝对电容性度量的曲线，基于良好接地值、该投影和该曲线确定低接地体校正因子，以及基于该互电容性度量和该低接地体校正系数确定输入对象的位置信息。该方法进一步包括报告该位置信息。

本发明的其他方面将从如下描述和所附权利要求中显而易见。

附图说明

图1示出了根据本发明的一个或多个实施例的系统的示意图。

图2，3.1，3.2和4示出了根据本发明的一个或多个实施例的流程图。

图5.1，5.2和5.3示出了根据本发明的一个或多个实施例的示例。

具体实施方式

如下详细描述本质上仅仅是示例性的，并非意图限制本发明或本发明的应用和使用。此外，不存在由前述技术领域、背景技术、发明内容或如下详细描述中呈现的任何表达的或暗示的理论所约束的意图。

本发明的各种实施例提供促进改进的可用性的输入装置和方法。

现在将参考附图详细地描述本发明的特定实施例。各种附图中相似元件由相似参考数字来表示，用于一致性。

在本发明的实施例的如下详细描述中，阐述许多特定细节，以便提供对本发明更全面的理解。然而，将对本领域普通技术人员显而易见的是，本发明可在没有这些特定细节的情况下实现。在其他实例中，没有详细地描述公知特征，以避免不必要地使描述复杂化。