[发明专利]一种阵列基板及其制备方法、显示面板和显示装置在审
申请号: | 201510263070.0 | 申请日: | 2015-05-21 |
公开(公告)号: | CN104900656A | 公开(公告)日: | 2015-09-09 |
发明(设计)人: | 刘政;李栋;李小龙 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77;H01L51/50;H01L51/56;H01L51/52 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 阵列 及其 制备 方法 显示 面板 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种阵列基板及其制备方法、显示面板和显示装置。
背景技术
有机电致发光显示装置,由于具有亮度、对比度高、可视角度大和色彩鲜艳等优点,目前已经被广泛关注并逐渐应用于各个领域。
有机电致发光显示装置中,阵列基板在非显示区部分,具有阴极层和源漏极金属层的整体叠层,阴极层包括金属层(如银或银合金构成的金属层)和金属层之上的像素电极层,阴极层和源漏极金属层分别在各自的层上形成不同的电极图形。在现有的制备工艺中,在对阴极层进行刻蚀(通常采用湿法刻蚀)时容易发生原电池效应导致源漏极金属层被损坏,使得显示面装置的良率降低。所谓的原电池效应(贾凡尼效应)是指活动性(即氧化性)不同的两种金属或金属和其他导电材料(如非金属和氧化物),浸在电解质溶液(如硫酸、双氧水等酸性物质)中发生氧化还原反应,使得活动性较强(即还原性较强)的金属发生氧化而导致不断被腐蚀的现象。
现有技术中,为了解决对阵列基板的非显示区内的阴极层进行刻蚀(通常采用湿法刻蚀)时源漏极金属层被损坏的问题,已经考虑选用特殊的源漏极金属材料,如钛或者钛与其他金属的叠层,提供源漏极金属层的抗腐蚀能力,但是采用钛或者钛与其他金属的叠层成本较高,且需要重新研发沉积和构图工艺,还无法提供较好的可行性方案。
发明内容
本发明的目的是提供一种阵列基板及其制备方法、显示面板和显示装置,以解决现有技术的有机电致发光显示装置的阵列基板制备工艺中,对非显示区内的阴极层进行刻蚀时会导致源漏极金属层被损坏的问题。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
本发明实施例提供一种阵列基板的制备方法,所述阵列基板包括显示区和除显示区之外的非显示区,方法包括:
在衬底基板上形成源漏极金属层,所述源漏极金属层包括位于所述显示区的薄膜晶体管的源电极和漏电极、以及位于所述非显示区的第一电极;
在所述源漏极金属层之上形成保护层,使所述非显示区的所述保护层的厚度小于所述显示区的所述保护层的厚度;
在所述保护层之上形成阴极层,去除位于所述非显示区的所述阴极层;
去除位于所述非显示区的所述保护层。
本实施例中,阵列基板的制备工艺中,在阵列基板的非显示区内,形成阴极层之前,在源漏极金属层之上形成减薄的平坦化膜层作为保护层,再形成阴极层并刻蚀。由于保护层能够在刻蚀阴极层时,避免刻蚀液对源漏极金属层的腐蚀,并隔绝阴极层和源漏极金属层,避免发生原电池效应导致所述源漏极金属层发生氧化反应,从而避免源漏极金属层被损坏的问题;平坦化膜层的制备工序不需要单独研发,容易实现且成本较低。
优选的,在衬底基板上形成源漏极金属层,所述源漏极金属层包括位于所述显示区的薄膜晶体管的源电极和漏电极、以及位于所述非显示区的第一电极,包括:
以铝薄膜、钼薄膜和钨薄膜中任意一种单层膜层或至少两种构成的复合膜层形成源漏极金属薄膜,或者以铝、钼和钨中至少两种的合金形成源漏极金属薄膜;
通过一道构图工艺使所述源漏极金属薄膜形成包括所述第一电极、所述薄膜晶体管的源电极和漏电极的源漏极金属层。
优选的,在所述源漏极金属层之上形成保护层,使所述非显示区的所述保护层的厚度小于所述显示区的所述保护层的厚度,包括:
在所述源漏极金属层之上形成平坦化膜层,通过半色调掩膜工艺使所述非显示区的所述保护层的厚度小于所述显示区的所述保护层的厚度。
优选的,在在所述源漏极金属层之上形成平坦化膜层,通过半色调掩膜工艺使所述非显示区的所述保护层的厚度小于所述显示区的所述保护层的厚度,具体包括:
以有机光阻材料在所述源漏极金属层之上形成厚度为8000埃~20000埃的所述平坦化膜层作为所述保护层,
通过半色调掩膜工艺使所述非显示区的所述保护层减薄至厚度为1000埃~8000埃。
优选的,在所述保护层之上形成阴极层,去除位于所述非显示区的所述阴极层,包括:
通过溅射或蒸镀工艺在所述保护层至少形成阴极层,通过一道构图工艺,去除位于所述非显示区的所述阴极层。
优选的,去除位于非显示区的所述保护层,包括:
在所述阴极层之上形成像素定义层,采用灰化工艺去除所述非显示区内所述像素定义层的图形覆盖之外的所述保护层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的