[发明专利]电子设备的测试方法及装置

说明书

本公开提供了电子设备的测试方法及装置，用以便于没有按键的电子设备进入测试模式，以对电子设备进行测试，其中，方法包括：电子设备上电后，进入测试模式，所述测试模式用于控制所述电子元器件正常工作，并通过正常工作的所述电子元器件控制所述电子设备进入测试状态；电子设备通过测试后，进入熔断模式，所述熔断模式用于熔断所述电子元器件，熔断后的电子元器件与所述电路的连接断开。通过本公开的技术方案，可以方便测试人员对电子设备进行测试，并在测试通过后，保证电子设备能正常工作，从而提升用户的使用体验。

技术领域

本公开涉及电子设备技术领域，尤其涉及电子设备的测试方法及测试装置。

背景技术

电子设备在工厂生产完成正式出厂前，为了保证设备的质量，需要进行一系列的测试。一般在测试模式下设备执行的任务和正常工作模式不同，很多情况下都需要设备配合，进入测试工作模式。一些电子产品的芯片中内置了测试代码，在设备正常工作过程中，这些代码不起作用。当设备的某些触发条件生效后(如按键被按下、设备芯片上的某个IO管脚的电平发生变化等等)，设备将执行测试代码，进入测试模式。一些电子设备由于自身没有按键，不太方便操作进入测试模式。

发明内容

本公开实施例提供电子设备的测试方法及装置，用以便于没有按键的电子设备进入测试模式，以对电子设备进行测试。

根据本公开实施例的第一方面，提供一种电子设备的测试方法，包括：所述电子设备包括电路，所述电子设备还包括：用于测试所述电子设备的电子元器件，所述电子元器件与所述电路之间电连接，所述方法包括：

所述电子设备上电后，进入测试模式，所述测试模式用于控制所述电子元器件正常工作，并通过正常工作的所述电子元器件控制所述电子设备进入测试状态；

所述电子设备通过测试后，进入熔断模式，所述熔断模式用于熔断所述电子元器件，熔断后的电子元器件与所述电路的连接断开。

在一个实施例中，所述电子元器件熔断后，所述方法还包括：

所述电子设备再次上电后，进入正常工作模式。

在一个实施例中，所述测试模式包括：

向所述电路和电子元器件通电，其中，通电后的电子元器件的工作参数值小于可熔断电子元器件的工作参数值，通电后的电子元器件和所述电路共同构成用于测试所述电子设备的测试电路；

由通电后的电子元器件触发所述测试电路执行预先写入所述电子设备中的测试数据。

在一个实施例中，所述熔断模式包括：

向所述电路和电子元器件通电，其中，通电后的电子元器件的工作参数大于或等于可熔断电子元器件的工作参数；

其中，可熔断电子元器件的工作参数值小于所述电路中任一元器件的可承受的工作参数最大值。

在一个实施例中，所述工作参数包括以下任一项或多项：温度、电流和电压。

在一个实施例中，所述电子元器件包括熔断电阻、保险丝和/或熔断器。

根据本公开实施例的第二方面，提供一种电子设备的测试装置，所述电子设备包括电路和用于测试所述电子设备的电子元器件，所述电子元器件与所述电路之间电连接，所述装置包括：

测试模块，用于在所述电子设备上电后，进入测试模式，所述测试模式用于控制所述电子元器件正常工作，并通过正常工作的所述电子元器件控制所述电子设备进入测试状态；

熔断模块，用于在所述电子设备通过测试后，进入熔断模式，所述熔断模式用于熔断所述电子元器件，熔断后的电子元器件与所述电路的连接断开。

在一个实施例中，所述装置还包括：