[发明专利]离型膜及其制备方法

说明书

本发明提供了一种离型膜及其制备方法。该离型膜包括由下往上依次层叠设置的基材原膜、中间层和离型层，其中，中间层为包含环氧基和/或不饱和官能基的树脂涂层。本发明通过在基材原膜和离型层之间增加中间层，并利用中间层来改善本发明提供的离型膜的密着性和耐久性，并使离型膜具有光学外观良好、便于产线线上监控的特点，从而提高了产品的使用寿命，降低了产品的造价。

技术领域

本发明涉及薄膜技术领域，具体而言，涉及一种离型膜及其制备方法。

背景技术

目前，市场上的离型膜多用于半导体元器件、液晶面板、PDP和有机EL等显示器材的保护膜，或用于不干胶、胶带、止痛膏和风湿膏等的背贴，用来防止上述物品的保护膜或者上述物品自行粘连在一起。离型膜通常是在薄膜基材的一面或者是双面涂布上硅系或氟系离型树脂所构成。

近些年来，随着显示器材向着大尺寸化和高精细化的发展，对离型膜的品质要求也越来越高，主要体现在需要离型膜上没有异物并保证一定的清洁度，以防止异物在生产过程中转移到产品当中。与此同时，随着人们生活品质的不断提高，对不干胶、胶带、止痛膏和风湿膏等的洁净程度要求也越来越高，离型膜上没有异物这一要求也纳入了用户要求。

对上述离型膜的异物或者缺陷的检查，通常是通过生产线上的图像分析检测装置来完成的。有时候，也会通过人眼目视来进行检测。特殊情况下，还会出现上述产品带着背贴(离型膜)来进行在线检测。然而，人眼目视检测会因为生产线速度过快，从而出现漏检或误检，还很容易出现检测疲劳。所以，生产线上的图像分析检测装置来完成检测是现在的生产主流。但是，这就要求离型膜要具有很好的光学特性(较低的反射率，干涉条纹等)，才能最大限度的减少检测装置的误判，漏检或过度检测。

同时，随着分工的细化、产地的多元化以及运输距离的延长，在库调整时期的延长等因素的影响，对离型膜的耐久性也有了更高的要求，尤其是不干胶、胶带、止痛膏和风湿膏等使用寿命长的产品。为了延长离型膜的寿命，改善离型膜的离型效果，很多厂家采用加厚硅胶涂层的做法，这样一来，增加了成本，同时又带来了干涉条纹增多的风险。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种离型膜及其制备方法，以提高离型膜的光学性能和耐久性。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种离型膜，该离型膜包括由下往上依次层叠设置的基材原膜、中间层和离型层，其中，中间层为包含环氧基和/或不饱和官能基团的树脂涂层。

进一步地，中间层还包含羟基。

进一步地，中间层为含硅或含氟的树脂涂层。

进一步地，中间层的结构式如式Ⅰ或式Ⅱ所示，其中，

式Ⅰ为

式Ⅱ为且m、n均为大或于等于1的整数，R₁、R₂和R₃独立地选自H、C1-C8的烷基或者C1-C8的烷基的氟代烷基；R₄选自H、C1-C20的烷基或者氟代烷基、C1-C20的酯基或者氟代酯基、C1-C20的醚基或者氟代醚基；R₅和R₆独立地选自CH₂或CF₂；R₇选自C1-C20的烷基或者氟代烷基、C1-C20的酯基或者氟代酯基、C1-C20的醚基或者氟代醚基。

进一步地，中间层为由第一硅烷和第二硅烷在酸性环境下反应形成的树脂涂层，其中，第一硅烷为环氧基硅烷或环氧基氟硅烷，第二硅烷为不饱和官能基硅烷或不饱和官能基氟硅烷。