[发明专利]动态光散射测定装置和动态光散射测定方法在审
申请号: | 201510340652.4 | 申请日: | 2015-06-18 |
公开(公告)号: | CN105277490A | 公开(公告)日: | 2016-01-27 |
发明(设计)人: | 泉谷悠介;岩井俊昭 | 申请(专利权)人: | 大塚电子株式会社;国立大学法人东京农工大学 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人: | 徐谦 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 动态 散射 测定 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及动态光散射测定装置和动态光散射测定方法。
背景技术
在专利文献1中公开了如下测定装置,在使用低相干光源和迈克耳逊型干涉仪的动态光散射测定装置中,取得参照光和散射光的干涉光的光谱强度,基于取得的光谱强度进行动态光散射测定,由此不需要参照镜(参照面)的扫描。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:国际公开第2013/077137号
发明内容
发明要解决的问题
但是,在现有的动态光散射测定装置中,使参照光和试样光(来自试样的散射光)分别在独立的光路中传播(参照光和试样光在不同的2个光路中传播),因此容易受到振动等外来干扰的影响,另外,存在需要进行参照光和试样光的光路差调整的问题。
本发明是鉴于如上问题完成的,其目的在于提供不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置和动态光散射测定方法。
用于解决问题的方案
(1)本发明涉及动态光散射测定装置,包含:照射部,其将来自低相干光源的光照射到包含颗粒的试样;光谱强度取得部,其使来自参照面的反射光和透射过所述参照面的来自所述试样的散射光分光,取得所述反射光和所述散射光的干涉光的光谱强度,所述参照面配置于照射到所述试样的光的光路上;以及测定部,其基于取得的所述光谱强度来测定所述试样的动态光散射。
另外,本发明涉及动态光散射测定方法,包含:照射步骤,将来自低相干光源的光照射到包含颗粒的试样;光谱强度取得步骤,使来自参照面的反射光和透射过所述参照面的来自所述试样的散射光分光,取得所述反射光和所述散射光的干涉光的光谱强度,所述参照面配置于照射到所述试样的光的光路上;以及测定步骤,基于取得的所述光谱强度来测定所述试样的动态光散射。
根据本发明,通过构成为:在照射到试样的光(来自低相干光源的光)的光路上配置参照面,使来自该参照面的反射光和透射过该参照面的来自试样的散射光分光,取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度,从而使参照光(来自参照面的反射光)和试样光(来自试样的散射光)在相同光路中传播,因此不易受到振动等外来干扰的影响,并且可以不需要进行参照光和试样光的光路差调整。
(2)另外,在本发明的动态光散射测定装置和动态光散射测定方法中也可以为,所述照射部(在所述照射步骤中)将来自所述低相干光源的光经由收纳所述试样的透明容器的壁面照射到所述试样,将所述参照面设为所述透明容器的壁面。
在此,所谓透明容器的壁面也可以是透明容器的外壁面,而且也可以是透明容器的内壁面。
根据本发明,通过将来自低相干光源的光经由收纳试样的透明容器的壁面照射到试样,在测定固液界面附近的试样的动态特性时,将透明容器的壁面设为参照面,从而使参照光(来自参照面的反射光)和试样光(来自试样的散射光)在相同光路上传播,因此不易受到振动等外来干扰的影响,并且可以不需要进行参照光和试样光的光路差调整。
(3)另外,在本发明的动态光散射测定装置和动态光散射测定方法中也可以为,所述照射部(在所述照射步骤中)将来自所述低相干光源的光经由所述试样的气液界面照射到所述试样,将所述参照面设为空气和所述试样的气液界面。
根据本发明,通过将来自低相干光源的光经由试样的气液界面(试样的液面)照射到试样,在测定气液界面附近的试样的动态特性时,将试样的气液界面设为参照面,从而使参照光(来自参照面的反射光)和试样光(来自试样的散射光)在相同光路中传播,因此不易受到振动等外来干扰的影响,并且可以不需要进行参照光和试样光的光路差调整。
(4)另外,在本发明的动态光散射测定装置和动态光散射测定方法中,也可以将所述参照面设于来自所述低相干光源的光传播的光传播部件的射出侧的端部。
根据本发明,通过在来自低相干光源的光传播的光传播部件的射出侧的端部设置参照面,使参照光(来自参照面的反射光)和试样光(来自试样的散射光)在相同光路中传播,因此不易受到振动等外来干扰的影响,并且可以不需要进行参照光和试样光的光路差调整。
附图说明
图1是表示第1实施方式的动态光散射测定装置的构成的一例的图。
图2是表示图1中的参照光和试样光的示意图。
图3是表示动态光散射测定的流程的流程图。
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