[发明专利]光学延迟装置和光学相干层析成像装置

说明书

相关申请的交叉引用

本申请基于并且要求2014年7月4日提交的日本专利申请号2014-138728的优先权，通过引用将其整个内容并入到此处。

技术领域

此处描述的实施例通常涉及光学延迟装置和光学相干层析成像(tomography)装置。

背景技术

低相干干涉测量为涉及足够的分辨率以使能诸如测量目标的表面形状或厚度的信息在几乎等于光的波长的尺度处被获得的技术。可以使用具有以光穿过测量目标的波长的光获得关于测量目标的层析成像信息，因此，低相干干涉测量被利用，例如，用于医疗设备。医疗设备的实例为光学相干层析成像装置，该光学相干层析成像装置获取生物层析成像信息。该医疗设备使能除了生物层析成像信息的信息通过使用低相干干涉测量与近红外光谱(NIRS)或偏振测定的组合被获得。

低相干干涉测量涉及通过将由低相干光源发出的光分离为探测光和参考光，使用探测光照射测量目标，并且检测在参考光与从测量目标反射的探测光之间的干涉光的强度而进行测量。当在探测光与参考光之间的光路长度的差等于或小于光源的相干长度时，发生由干涉产生的强度改变。利用低相干干涉测量的装置包括使能参考光的光路长度被改变的光学延迟装置。对于光学延迟装置，已经存在使能尺寸减少与光路长度的增加的需求。

发明内容

根据一个实施例，光学延迟装置包括第一后向反射器、第二后向反射器、第三后向反射器以及第一驱动机构。所述第一后向反射器包括第一反射表面和第二反射表面，所述第一反射表面与所述第二反射表面基本上彼此垂直。所述第二后向反射器包括第三反射表面和第四反射表面，所述第三反射表面和所述第四反射表面与所述第一反射表面相对并且基本上彼此垂直。所述第三后向反射器包括第五反射表面和第六反射表面，所述第五反射表面和所述第六反射表面与所述第二反射表面相对并且基本上彼此垂直。所述第一驱动机构彼此相对移动所述第一后向反射器和所述第二后向反射器与所述第三后向反射器的组。在所述第一反射表面与所述第二反射表面之间的第一相交线基本上垂直于在所述第三反射表面与所述第四反射表面之间的第二相交线，所述第二相交线基本上平行于在所述第五反射表面与所述第六反射表面之间的第三相交线，并且所述第二相交线与所述第三相交线在沿所述第一相交线的方向上彼此错位。

附图说明

图1为根据第一实施例示出光学延迟装置的图；

图2为示出包括在图1中示出的光学延迟装置中的光学元件的布置的侧视图；

图3为示出包括在图1中示出的光学延迟装置中的光学元件的布置的顶视图；

图4为根据第一实施例的第一变型示出光学延迟装置的图；

图5为示出包括在图4中示出的光学延迟装置中的光学元件的布置的侧视图；

图6为根据第一实施例的第二变型示出的光学延迟装置的图；

图7为示出包括在图6中示出的光学延迟装置中的光学元件的布置的侧视图；

图8为根据第二实施例示出光学延迟装置的图；

图9为示出包括在图8中示出的光学延迟装置中的光学元件的布置的侧视图；

图10为根据第三实施例示出光学延迟装置的图；

图11为根据第四实施例示出光学相干层析成像装置的图；

图12为示出在光路长度差与光强度变化之间的关系的图；以及

图13A和图13B为示出在图11中示出的光学相干层析成像装置的操作的图。

具体实施方式

在下文中将参考附图描述实施例。在下面的实施例中，相同的参考符号表示相同的元件，并且其重复的描述将被省略。

(第一实施例)

图1根据第一实施例示意性示出光学延迟装置10。图2和图3分别为示意性示出包括在光学延迟装置10中的光学元件的布置的侧视图与顶视图。如在图1中所示，光学延迟装置10包括后向反射器Ra、Rb以及Rc，和驱动机构18。

后向反射器Ra包括反射表面11a和12a，该反射表面11a和12a基本上彼此垂直。后向反射器Rb包括反射表面11b和12b，该反射表面11b和12b基本上彼此垂直。后向反射器Rc包括反射表面11c和12c，该反射表面11c和12c基本上彼此垂直。反射表面11a、12a、11b、12b、11c以及12c可以为，例如，电介质多层膜镜或金属沉积镜或可以利用来自棱镜的全反射。