[发明专利]集成电路、集成电路测试装置以及方法

权利要求书

1.一种集成电路，包括：

第一电源单元，输出第一输出电压且耦接至第一负载引脚，其中上述第一负载引脚耦接至所述集成电路外部的第一负载；

第二电源单元，输出第二输出电压且耦接至第二负载引脚，其中上述第二负载引脚耦接至所述集成电路外部的第二负载；以及

选择开关，根据选择信号，选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至电压引脚。

2.如权利要求1所述的集成电路，其中上述选择开关为多工器。

3.如权利要求1所述的集成电路，其中上述第一负载以及上述第二负载为电阻或电子式负载。

4.如权利要求1所述的集成电路，其中上述选择开关还根据测试逻辑，序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚。

5.一种集成电路测试装置，包括：

集成电路，包括：

第一电源单元，输出第一输出电压且耦接至第一负载引脚；

第二电源单元，输出第二输出电压且耦接至第二负载引脚；以及

选择开关，根据一选择信号选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至电压引脚；

集成电路插座，包括：

集成电路插槽，可分离地容置上述集成电路；

第一负载探针，耦接至上述第一负载引脚且耦接至所述集成电路外部的第一负载；

第二负载探针，耦接至上述第二负载引脚且耦接至所述集成电路外部的第二负载；以及

电压探针，耦接至上述电压引脚；

电压计，耦接至上述电压探针，根据测量信号测量上述电压探针的电压值而发出电压信号；以及

处理器，产生上述选择信号以及上述测量信号，并接收上述电压信号。

6.如权利要求5所述的集成电路测试装置，其中上述选择开关为多工器。

7.如权利要求5所述的集成电路测试装置，其中上述第一负载以及上述第二负载为电阻或电子式负载。

8.如权利要求5所述的集成电路测试装置，其中上述处理器还根据一测试逻辑输出上述选择信号以及上述测量信号，以序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚，且序列地测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压，并将上述第一输出电压以及上述第二输出电压存储于暂存器。

9.一种集成电路测试方法，适用于如权利要求5所述的集成电路测试装置，包括：

利用上述第一负载以及上述第二负载，分别对上述第一电源单元以及上述第二电源单元抽取第一电流以及第二电流；

根据上述选择信号，选择将上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至上述电压引脚；以及

根据上述测量信号，测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压。

10.如权利要求9所述的集成电路测试方法，还包括：

利用上述选择信号序列输出上述第一输出电压以及上述第二输出电压；

利用上述测量信号，序列测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压；以及

将上述第一输出电压以及上述第二输出电压的电压值存储于暂存器。