[发明专利]集成电路、集成电路测试装置以及方法有效

申请号：	201510382967.5	申请日：	2015-07-02
公开（公告）号：	CN105067988B	公开（公告）日：	2018-03-30
发明（设计）人：	蔡汉尧	申请（专利权）人：	英特尔公司
主分类号：	G01R31/28	分类号：	G01R31/28
代理公司：	上海专利商标事务所有限公司31100	代理人：	黄嵩泉
地址：	美国加利***	国省代码：	暂无信息
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摘要：
搜索关键词：	集成电路测试装置以及方法
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【说明书】：

技术领域

本发明涉及一种集成电路测试装置以及方法，涉及一种利用不同引脚同时施加测试条件并且测量测试项目的集成电路测试装置以及方法。

背景技术

在最终测试(Final Test，FT)集成电路(Integrated Circuit，IC)的时候，往往都会将封装后的集成电路放置在集成电路插座(IC socket)中，以测试封装后的集成电路是否功能正常。针对功率集成电路进行最终测试时，通常需要抽取负载电流后，再测量负载后的输出电压是否符合规格要求。因此，我们需要一个有效率的集成电路测试装置以及方法。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种集成电路，包括：一第一电源单元、一第二电源单元以及一选择开关。上述第一电源单元输出一第一输出电压且耦接至一第一负载引脚，其中上述第一负载引脚耦接至一第一负载。上述第二电源单元输出一第二输出电压且耦接至一第二负载引脚，其中上述第二负载引脚耦接至一第二负载。上述选择开关，根据一选择信号，选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至一电压引脚。

根据本发明的一实施例，上述选择开关为一多工器。

根据本发明的一实施例，上述第一负载以及上述第二负载为一电阻或一电子式负载。

根据本发明的一实施例，上述选择开关还根据一测试逻辑，序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚。

本发明还提出一种集成电路测试装置，包括：一集成电路、一集成电路插座、一电压计以及一处理器。上述集成电路包括：一第一电源单元、一第二电源单元以及一选择开关。上述第一电源单元输出一第一输出电压且耦接至一第一负载引脚。上述第二电源单元输出一第二输出电压且耦接至一第二负载引脚。上述选择开关根据一选择信号选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至一电压引脚。上述集成电路插座包括：一集成电路插槽、一第一负载探针、一第二负载探针以及一电压探针。上述集成电路插槽可分离地容置上述集成电路。上述第一负载探针耦接至上述第一负载引脚且耦接至一第一负载。上述第二负载探针耦接至上述第二负载引脚且耦接至一第二负载。上述电压探针耦接至上述电压引脚。上述电压计耦接至上述电压探针，根据一测量信号测量上述电压探针的电压值而发出一电压信号。上述处理器产生上述选择信号以及上述测量信号，并接收上述电压信号。

根据本发明的一实施例，上述选择开关为一多工器。

根据本发明的一实施例，上述第一负载以及上述第二负载为一电阻或一电子式负载。

根据本发明的一实施例，上述处理器还根据一测试逻辑输出上述选择信号以及上述测量信号，以序列地将上述第一输出电压以及上述第二输出电压输出至上述电压引脚，且序列地测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压，并将上述第一输出电压以及上述第二输出电压存储于一暂存器。

本发明还提出一种集成电路测试方法，适用于上述的集成电路测试装置，包括：利用上述第一负载以及上述第二负载，分别对上述第一电源单元以及上述第二电源单元抽取一第一电流以及一第二电流；根据上述选择信号选择上述第一输出电压以及上述第二输出电压中的一个输出至上述电压引脚；以及根据上述测量信号测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压。

根据本发明的一实施例，集成电路测试方法还包括：利用上述选择信号序列输出上述第一输出电压以及上述第二输出电压；利用上述测量信号，序列测量上述第一输出电压以及上述第二输出电压；以及将上述第一输出电压以及上述第二输出电压的电压值存储于一暂存器。

附图说明

图1是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试装置的示意图；

图2是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路的方块图；

图3是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试装置的示意图；以及

图4是显示根据本发明的一实施例所述的集成电路测试方法的流程图。

【符号说明】

100、300 集成电路测试装置

110、200、310 集成电路

111 引脚

120 集成电路插座

121 探针