[发明专利]一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法

权利要求书

1.一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

(1)在梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径d_c；

(2)在相同的梯度溶液中，采用CPS离心粒度仪测定包覆了配体的纳米颗粒的粒径d；

(3)根据式(I)计算配体层的厚度：

$d^{1.5}=\frac{d_c^3+6\[d_c^2\mathrm{\Δ}l+2d_c{\mathrm{\Δl}}^2+\frac{4}{3}{\mathrm{\Δl}}^3\]\frac{{\mathrm{\ρ}}_s}{{\mathrm{\ρ}}_p}}{{(d_c+2\mathrm{\Δ}l)}^{1.5}}---\left(I\right)$

其中，d是包覆了配体的纳米颗粒的粒径；d_c是未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径；Δl是配体层的厚度；ρ_s是纳米裸颗粒的材质密度；ρ_p为梯度溶液的平均密度。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述ρ_p≤0.25ρ_s。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述ρ_p≤0.1ρ_s。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)和步骤(2)所述离心粒度仪的转速为10000～20000转/min。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)和步骤(2)所述离心粒度仪的离心时间为5～10min。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)离心粒度仪测定未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径d_c过程中，未包覆配体的纳米裸颗粒以溶液形式上样，上样量为90～110μL；所述上样的未包覆配体的纳米裸颗粒的溶液浓度为9×10¹⁰个纳米颗粒/mL。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述上样量为100μL。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(2)离心粒度仪测定包覆了配体的纳米颗粒的粒径d过程中，包覆了配体的纳米颗粒以溶液形式上样，上样量为90～110μL；所述上样的包覆了配体的纳米颗粒的溶液浓度为9×10¹⁰个纳米颗粒/mL。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述上样量为100μL。

10.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)和步骤(2)梯度溶液的梯度个数为6～12。

11.如权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)和步骤(2)梯度溶液的梯度个数为9。