[发明专利]一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法有效
申请号: | 201510389183.5 | 申请日: | 2015-07-03 |
公开(公告)号: | CN104964664B | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
发明(设计)人: | 葛广路;王瑞敏;陈岚 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G01B21/08 | 分类号: | G01B21/08;G01B21/10 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人: | 巩克栋,侯桂丽 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 包覆有配体 纳米 颗粒 表面 配体层 厚度 测定 方法 | ||
技术领域
本发明涉及纳米颗粒检测领域,尤其涉及一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法。
背景技术
CPS离心粒度仪为圆盘离心式纳米粒度分析仪,采用的是差示沉淀法进行颗粒粒度的测量和分析。CPS离心粒度仪在高速旋转的离心转盘中建立起梯度溶液,常用的梯度液是蔗糖的水溶液,测试步骤具体为:
(1)配制梯度溶液:准备两种不同浓度的梯度液,并按照不同比例混合两种浓度的溶液从而配制梯度溶液;
(2)建立梯度:先向旋转的转盘中注入高浓度溶液,并依次逐步降低注入溶液浓度,最后注入最低浓度梯度液;在转盘中外侧溶液浓度高、内侧溶液浓度低,由于高速旋转,不同浓度溶液短时间(可维持8小时)内可保持梯度而不会混合;
(3)上样测试:待梯度液稳定后用进样注射器将样品从转盘中间进样口加入,颗粒由中心向周围沉降;由于大颗粒沉降较快,小颗粒沉降较慢,通过检测沉降速度,得到样品的粒度分布信息。
根据斯多克斯定律(Stokes Law),如果颗粒在液体内的一个重力场中沉淀,沉淀速度与颗粒粒度直径的平方成正比,粒度相差百分之几的颗粒之间都会有非常显著的沉淀速度差。
CPS离心粒度仪测试系统在一般情况下可以分辨粒度差别小于5%的颗粒,最小可分辨的粒度差为2%,这比同类其他分析方法的精度都要高很多。CPS标定颗粒的大小是通过直接物理测量方法校正过的,而且标定颗粒都与美国标准和技术研究院NIST的其它标准进行过交叉对比,确保均值、峰值宽度或者半峰宽度等方面的误差在±2%之内。
尺寸在1~100nm范围内的纳米颗粒在生物成像、药物输送、癌症治疗等重要领域都有很重要的应用前景。由于纳米颗粒具有极高的比表面积,也具有非常活跃的表面化学性。故当纳米颗粒进入到生物体液中就很容易被覆盖一层复杂的生物分子(如蛋白质,天然有机高分子,表面活性剂,酶等),形成生物分子包覆层,即表面配体。具有表面配体的纳米颗粒在尺寸上发生变化,进而改变纳米颗粒的表面性质,从而控制纳米颗粒和细胞之间的相互作用,决定着纳米颗粒进入生物环境中后续的细胞/组织反应。因此,表面配体厚度对纳米颗粒在生物系统中的效应有着至关重要的作用。
由于在纳米颗粒表面包覆配体层厚纳米颗粒仍可以稳定分散在溶剂中。目前多数方法将样品做成干态再测试粒径,例如扫描电镜和透射电镜。而干态纳米颗粒配体层与其在溶剂中稳定分散时的状态有很大差别。故在干态下检测得到的配体层厚度是不准确的,所以单纯将包覆了配体层的粒径与纳米裸颗粒的粒径相减,无法获得配体层的厚度。
因此,现有技术中还无法精确测量出纳米颗粒表面包覆的配体层的厚度,而本领域急需要开发一种能够测量纳米颗粒配体层厚度的方法。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明的目的之一在于提供一种能够测量纳米颗粒配体层厚度的方法。所述方法能够准确测量出纳米颗粒表面的配体厚度。
本发明通过如下具体方案实现:
一种包覆有配体的纳米颗粒表面配体层厚度的测定方法,包括如下步骤:
(1)在梯度溶液中,采用CPS离心粒度仪测定未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径dc;
(2)在相同的梯度溶液中,采用CPS离心粒度仪测定包覆了配体的纳米颗粒的粒径d;
(3)根据式(I)计算配体层的厚度:
其中,d是包覆了配体的纳米颗粒的粒径;dc是未包覆配体的纳米裸颗粒的粒径;Δl是配体层的厚度;ρs是纳米裸颗粒的材质密度;ρp为梯度溶液的平均密度。
其中,所述ρp≤0.25ρs,例如0.01ρs、0.08ρs、0.1ρs、0.13ρs、0.16ρs、0.19ρs、0.21ρs、0.24ρs等,优选ρp≤0.1ρs。
本发明步骤(1)和步骤(2)所述离心粒度仪的转速为10000~20000转/min,例如10200转/min、10900转/min、11500转/min、14600转/min、16000转/min、18500转/min、19000转/min等。
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