[发明专利]在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201510390573.4 申请日: 2015-07-06
公开(公告)号: CN105182101B 公开(公告)日: 2018-07-27
发明(设计)人: 杨刚;宋勇;龙君;安喜君;张宏坤;刘滋旺 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 柴亮;张天舒
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 触摸屏 按压 测试 检测 不良 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种在触摸屏按压测试中检测不良的方法,其特征在于,包括:

S1,在按压测试时,采集触摸屏的每个按压处被按压后,该按压处所在检测区域的图像;

S2,在所采集的图像中识别异常点的数量;

S3,将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较,并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时,将所述触摸屏判定为不良;

在判定所述触摸屏不良后,记录所述按压处被按压的次数。

2.根据权利要求1所述的在触摸屏按压测试中检测不良的方法,其特征在于,根据所述异常点的数量超出按压测试所允许存在的异常点数量的值,判断所述触摸屏不良的级别。

3.根据权利要求1所述的在触摸屏按压测试中检测不良的方法,其特征在于,所述步骤S2中,还在所采集的图像中识别每个异常点的尺寸,并根据尺寸的不同,将异常点分为多个级别;

所述步骤S3中,将每个级别的异常点的数量与按压测试所允许存在的该级别的异常点数量进行比较,并在任意级别的所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时,将所述触摸屏判定为不良。

4.根据权利要求3所述的在触摸屏按压测试中检测不良的方法,其特征在于,根据各级别异常点的数量超出按压测试所允许存在的该级别异常点数量的值,综合判断所述触摸屏不良的级别。

5.根据权利要求1~4任意一项所述的在触摸屏按压测试中检测不良的方法,其特征在于,在判定所述触摸屏为不良后报警。

6.根据权利要求2或4所述的在触摸屏按压测试中检测不良的方法,其特征在于,在判定所述触摸屏为不良后报警,并提示所述判断出的不良级别。

7.根据权利要求1所述的在触摸屏按压测试中检测不良的方法,其特征在于,在步骤S1中,在每次按压所述按压处后,采集所述按压处所在检测区域的图像。

8.根据权利要求1所述的在触摸屏按压测试中检测不良的方法,其特征在于,步骤S2中,通过将步骤S1中所采集的图像与标准图像进行比对,来识别步骤S1中所采集的图像中的异常点的数量;所述标准图像为不包括异常点的按压处所在检测区域的图像。

9.一种在触摸屏按压测试中检测不良的装置,其特征在于,包括:

图像采集模块,所述图像采集模块用于在按压测试时,采集触摸屏的每个按压处被按压后,该按压处所在检测区域的图像;

图像识别模块,所述图像识别模块用于在所述图像采集模块所采集的图像中识别异常点的数量;

不良判断模块,所述不良判断模块用于将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较,并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时,将所述触摸屏判定为不良;

记录模块,所述记录模块用于在所述不良判断模块判定所述触摸屏不良后,记录所述按压处被按压的次数。

10.根据权利要求9所述的在触摸屏按压测试中检测不良的装置,其特征在于,所述不良判断模块还根据所述异常点的数量超出按压测试所允许存在的异常点数量的值,判断所述触摸屏不良的级别。

11.根据权利要求9所述的在触摸屏按压测试中检测不良的装置,其特征在于,所述图像识别模块还在所采集的图像中识别每个异常点的尺寸,并根据尺寸的不同,将异常点分为多个级别;

所述不良判断模块将每个级别的异常点的数量与按压测试所允许存在的该级别的异常点数量进行比较,并在任意级别的所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时,将所述触摸屏判定为不良。

12.根据权利要求11所述的在触摸屏按压测试中检测不良的装置,其特征在于,所述不良判断模块还根据各级别异常点的数量超出按压测试所允许存在的该级别异常点数量的值,综合判断所述触摸屏不良的级别。

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