[发明专利]在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置

说明书

本发明涉及在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置。所述在触摸屏按压测试中检测不良的方法包括：S1，在按压测试时，采集触摸屏的每个按压处被按压后，该按压处所在检测区域的图像；S2，在所采集的图像中识别异常点的数量；S3，将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较，并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。上述检测不良的方法可以准确且及时地检测触摸屏在按压测试过程中是否存在不良。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及一种在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置。

背景技术

触摸屏一般包括显示屏和触摸组件；其中，所述显示屏用于实现显示功能，其一般为薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，以下简称为TFT LCD)；所述触摸组件用于实现触摸功能。

在所述触摸屏制备完成之后，需要对触摸屏进行按压测试，以检测显示屏和触摸组件的抗压性能和耐久性。所述按压测试包括点击、划线以及软压等；所述点击是指在开机状态下，使用压头(直径为5mm或其他)以一定力(如2.5N)在触摸屏上的多个点按压一定次数(如每个点按压10万次)，而后检测触摸屏的外观及功能是否正常；所述划线是指在开机状态下，使用压头(直径为5mm或其他)以一定力(如2.5N)在触摸屏上的多个点划线一定次数(如在每个点划线20万次)，而后检测触摸屏的外观及功能是否正常；所述软压是指在开机状态下，触摸屏正面朝下，并维持与压头垂直的状态，以一定力挤压触摸屏一定次数(如以300N的力挤压2000次)，而后检测触摸屏的外观、功能及装配是否正常。

在对触摸屏进行大量次数的点击、划线或软压后，所述显示屏的隔垫物的表面容易发生破损，隔垫物的表面上会脱落一定的颗粒物，所述颗粒会掉落在液晶层中，会使光线在该位置处的透射异常，从而产生亮点，即所谓Zara不良。因此，在按压测试完成后，需要检测触摸屏是否满足合格标准，具体地，若所述亮点的数量小于预定值则判定所述触摸屏合格，若所述亮点的数量超出预定值则判定所述触摸屏不合格。

现有技术中，一般在按压测试完成后，由工作人员目视检测显示屏是否存在Zara不良；这样的检测方式存在以下两个技术问题：

首先，不同工作人员目视检测的标准不同，从而容易造成误检、漏检以及过捡等，这使其检测的准确性较差。

其次，在按压测试完成后再进行检测，使得检测的即时性较差，即无法即时获得在多少次按压后所述亮点的数量超出预定值；实际中，对于不同用途的触摸屏，判定合格的标准是不同的，在所述触摸屏不符合某高标准的触摸屏的情况下，上述检测方式无法判断所述触摸屏是否满足另一低标准的要求。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置，其可以及时和准确地检测触摸屏是否在按压测试过程中发生不良。

为实现本发明的目的而提供一种在触摸屏按压测试中检测不良的方法，其包括：

S1，在按压测试时，采集触摸屏的每个按压处被按压后，该按压处所在检测区域的图像；

S2，在所采集的图像中识别异常点的数量；

S3，将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较，并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。

其中，根据所述异常点的数量超出按压测试所允许存在的异常点数量的值，判断所述触摸屏不良的级别。

其中，所述步骤S2中，还在所采集的图像中识别每个异常点的尺寸，并根据尺寸的不同，将异常点分为多个级别；所述步骤S3中，将每个级别的异常点的数量与按压测试所允许存在的该级别的异常点数量进行比较，并在任意级别的所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。