[发明专利]混频器变频损耗的测试方法和系统在审

专利信息
申请号: 201510393775.4 申请日: 2015-07-03
公开(公告)号: CN105067894A 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 罗宏伟;黄志芳 申请(专利权)人: 工业和信息化部电子第五研究所
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 李巍
地址: 510610 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 混频器 变频 损耗 测试 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种混频器变频损耗的测试方法,其特征在于,包括如下步骤:

设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数;

与测试仪器进行通讯,驱动所述测试仪器根据所述应用参数向所述混频器输入对应的本振频率信号和射频信号;

获取所述测试仪器返回的测试数据,其中,所述测试数据为所述混频器根据所述本振频率信号和射频信号混频处理后输出的中频信号功率;

计算所述应用参数对应的射频信号功率和测试数据的比值,得到变频损耗值。

2.根据权利要求1所述的混频器变频损耗的测试方法,其特征在于,所述设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数之前,还包括:

检测判断与所述测试仪器的通讯是否正常;

若是,则执行所述设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数的步骤。

3.根据权利要求2所述的混频器变频损耗的测试方法,其特征在于,所述检测判断与所述测试仪器的通讯是否正常,包括:

向所述测试仪器发送检测数据;

判断是否接收到所述测试仪器响应所述检测数据得到的反馈数据;

若是,判定与所述测试仪器的通讯正常。

4.根据权利要求1所述的混频器变频损耗的测试方法,其特征在于,所述设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数包括:

获取输入的用户名和用户口令;

判断是否存储有输入的用户名;

若是,判断输入的用户口令与存储的用户名对应的口令是否一致;

若一致,接收输入的对应所述用户名的参数,将所述参数设置为所述应用参数;或

根据所述用户名,获取存储的对应所述用户名的参数,将存储的参数中存储时间最新的参数设置为所述应用参数。

5.根据权利要求1所述的混频器变频损耗的测试方法,其特征在于,所述计算所述应用参数对应的射频信号功率和测试数据的比值,得到变频损耗值之后,还包括:

对所述变频损耗值和预设指标进行比较处理,得到所述混频器的性能分析报告。

6.一种混频器变频损耗的测试系统,其特征在于,包括:

参数设置模块,用于设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数;

驱动测试模块,用于与测试仪器进行通讯,驱动所述测试仪器根据所述应用参数向所述混频器输入对应的本振频率信号和射频信号;

数据采集模块,用于获取所述测试仪器返回的测试数据,其中,所述测试数据为所述混频器根据所述本振频率信号和射频信号混频处理后输出的中频信号功率;

数据处理模块,用于计算所述应用参数对应的射频信号功率和测试数据的比值,得到变频损耗值。

7.根据权利要求6所述的混频器变频损耗的测试系统,其特征在于,还包括通讯测试模块,用于检测判断与所述测试仪器的通讯是否正常。

8.根据权利要求7所述的混频器变频损耗的测试系统,其特征在于,所述通讯测试模块包括:

数据发送单元,用于向所述测试仪器发送检测数据;

数据接收单元,用于判断是否接收到所述测试仪器响应所述检测数据得到的反馈数据;

结果判定单元,用于在接收到所述反馈数据时,判定与所述测试仪器的通讯正常。

9.根据权利要求6所述的混频器变频损耗的测试系统,其特征在于,所述参数设置模块包括:

用户标识采集单元,用于获取输入的用户名和用户口令;

用户标识识别单元,用于判断是否存储有输入的用户名,若是,判断输入的用户口令与存储的用户名对应的口令是否一致;

用户参数设置单元,用于在输入的用户口令与存储的用户名对应的口令一致时,接收输入的对应所述用户名的参数,将所述参数设置为所述应用参数;或

用于根据所述用户名,获取存储的对应所述用户名的参数,将存储的参数中存储时间最新的参数设置为所述应用参数。

10.根据权利要求6所述的混频器变频损耗的测试系统,其特征在于,还包括性能分析模块,用于对所述变频损耗值和预设指标进行比较处理,得到所述混频器的性能分析报告。

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