[发明专利]混频器变频损耗的测试方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及仪器性能测试技术领域，特别是涉及一种混频器变频损耗的测试方法和系统。

背景技术

混频器将两道不同频率的输入信号混合成一道特定频率的输出信号，实现频率转换功能。混频器作为接收机或者其他设备的重要组成部分，其性能的好坏直接影响设备和仪器的参数指标，尤其是混频器的变频损耗，对整个设备的工作状态有十分重要的影响。变频损耗定义为在给定的LO(LocalOscillator本振频率)下输入频率的功率与输出频率的功率之比，是混频器如何有效地将输入频率能量变换成输出频率能量的测度，其中输入频率为RF(RadioFrequency射频)，输出频率为IF(IntermediateFrequency中频)。

混频器的变频损耗的测试受到LO、RF及端口间的匹配影响，测试难度较大。传统的变频损耗的测试方法包括：使用功率计、频谱仪或者矢量网络分析仪等测试仪器。采用功率计和频谱仪测试变频损耗需要使用两台信号源、功率计或者频谱分析仪以及函数信号发生器，采用矢量网络分析仪测试变频损耗需要使用一台两端口矢量网络分析仪和一台信号源或者内含两激励源的四端口矢量网络分析仪，这两种测试方法均需要人工手动的对各种仪器进行切换和设置，测试值还需要进行后续的人工处理，费时费力。因此，传统的变频损耗的测试方法效率不高。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种效率高的混频器变频损耗的测试方法和系统。

一种混频器变频损耗的测试方法，包括如下步骤：

设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数；

与测试仪器进行通讯，驱动所述测试仪器根据所述应用参数向所述混频器输入对应的本振频率信号和射频信号；

获取所述测试仪器返回的测试数据，其中，所述测试数据为所述混频器根据所述本振频率信号和射频信号混频处理后输出的中频信号功率；

计算所述应用参数对应的射频信号功率和测试数据的比值，得到变频损耗值。

一种混频器变频损耗的测试系统，包括：

参数设置模块，用于设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数；

驱动测试模块，用于与测试仪器进行通讯，驱动所述测试仪器根据所述应用参数向所述混频器输入对应的本振频率信号和射频信号；

数据采集模块，用于获取所述测试仪器返回的测试数据，其中，所述测试数据为所述混频器根据所述本振频率信号和射频信号混频处理后输出的中频信号功率；

数据处理模块，用于计算所述应用参数对应的射频信号功率和测试数据的比值，得到变频损耗值。

上述的一种混频器变频损耗的测试方法和系统，通过驱动测试仪器根据应用参数向混频器输入对应的射频信号和本振频率信号，获取测试仪器返回的混频器混频输出的测试数据，并计算应用参数对应的射频信号和测试数据的比值得到变频损耗值，实现了混频器变频损耗的自动测试，降低人工劳动强度，提高了效率。

附图说明

图1为其中一实施例中本发明混频器变频损耗的测试方法的流程图；

图2为另一实施例中混频器变频损耗的测试方法的流程图；

图3为一实施例中设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数的流程图；

图4为本发明混频器变频损耗的测试系统的模块图；

图5为一实施例中测试仪器与混频器的连接示意图；

图6为另一实施例中混频器变频损耗的测试系统的模块图；

图7为一实施例中通讯测试模块的具体单元图；

图8为一实施例中参数设置模块的具体单元图；

图9为应用混频器变频损耗的测试系统的测试装置图；

图10为通讯子VI的模块框图；

图11为通讯子VI的程序框图；

图12为仪器驱动子VI的界面示意图；

图13为计算机上运行软件的登陆界面示意图。

具体实施方式

参考图1，本发明一实施例的一种混频器变频损耗的测试方法，包括步骤S110至步骤S170。

S110：设置混频器的本振频率信号和射频信号对应的应用参数。

例如，工作人员可以人工输入需要设置的对应本振频率信号和射频信号的频率点数，表示对应的本振频率信号和射频信号。

S130：与测试仪器进行通讯，驱动测试仪器根据应用参数向混频器输入对应的本振频率信号和射频信号。