[发明专利]一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置及方法在审

专利信息
申请号: 201510404188.0 申请日: 2015-07-10
公开(公告)号: CN105527508A 公开(公告)日: 2016-04-27
发明(设计)人: 杨利华 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家未*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 评估 智能卡 芯片 cpu 抗干扰 能力 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置,其特征在于,该装置 包括:

测试软件,与读卡器相连,用于读取智能卡与读卡器之间的通讯指令并显示;

干扰噪声发生器,用于产生干扰信号,发送给智能卡;

智能卡,接收干扰信号,出现CPU跑飞,在数据区写数据,确定智能卡跑飞 次数;

读卡器,用于同智能卡通讯。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,

测试软件,向读卡器循环发送非写指令,接收读卡器发送的执行结果;

读卡器,用于将非写指令发送给智能卡,将智能卡的执行结果发送给测试软 件。

3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,

所述智能卡,出现跑飞时,执行CPU跑飞验证函数,在数据区写数据,并将 执行结果发送给测试软件。

4.一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试方法,其特征在于,该方法 包括:

智能卡工作时,对智能卡施加干扰;

出现CPU跑飞,执行跑飞验证函数;

根据执行结果,统计智能卡抗干扰能力。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述智能卡工作时,对智能卡 施加干扰,包括:

循环执行正常的非写指令,启动干扰噪声发生器,向智能卡发送干扰信号。

6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述执行跑飞验证函数, 包括:

在数据区特定区域写数据。

7.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,根据执行结果,统计智能 卡抗干扰能力,包括:

读取写数据,根据写数据统计跑飞次数。

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