[发明专利]一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置及方法在审
申请号: | 201510404188.0 | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN105527508A | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
发明(设计)人: | 杨利华 | 申请(专利权)人: | 北京中电华大电子设计有限责任公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 102209 北京市昌平区北七家未*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 评估 智能卡 芯片 cpu 抗干扰 能力 测试 装置 方法 | ||
1.一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试装置,其特征在于,该装置 包括:
测试软件,与读卡器相连,用于读取智能卡与读卡器之间的通讯指令并显示;
干扰噪声发生器,用于产生干扰信号,发送给智能卡;
智能卡,接收干扰信号,出现CPU跑飞,在数据区写数据,确定智能卡跑飞 次数;
读卡器,用于同智能卡通讯。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,
测试软件,向读卡器循环发送非写指令,接收读卡器发送的执行结果;
读卡器,用于将非写指令发送给智能卡,将智能卡的执行结果发送给测试软 件。
3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,
所述智能卡,出现跑飞时,执行CPU跑飞验证函数,在数据区写数据,并将 执行结果发送给测试软件。
4.一种评估智能卡芯片CPU抗干扰能力的测试方法,其特征在于,该方法 包括:
智能卡工作时,对智能卡施加干扰;
出现CPU跑飞,执行跑飞验证函数;
根据执行结果,统计智能卡抗干扰能力。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述智能卡工作时,对智能卡 施加干扰,包括:
循环执行正常的非写指令,启动干扰噪声发生器,向智能卡发送干扰信号。
6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述执行跑飞验证函数, 包括:
在数据区特定区域写数据。
7.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,根据执行结果,统计智能 卡抗干扰能力,包括:
读取写数据,根据写数据统计跑飞次数。
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