[发明专利]用于检测β球蛋白基因的变异的微阵列及其检测方法

权利要求书

1.一种多态性检测用微阵列探针对的评价方法，含有以下的工序：

(1)在含有表示第1多态性检测用探针杂交而获得的信号强度的Y轴和表示第2多态性检测用探针杂交而获得的信号强度的X轴的荧光坐标系中标绘荧光坐标的工序，所述荧光坐标使第1多态性用对照核酸与多态性检测用探针对杂交而获得；

(2)将反比于通过所述Y轴和X轴的交点O与所述工序(1)中标绘的荧光坐标的直线的倾角的值设为校正值C的工序；

(3)对多个多态性检测用探针对进行工序(1)及(2)，在各探针对间比较校正值C，将校正值C为最小的探针对确定为适合于第1多态性检测的探针对的工序。

2.根据权利要求1所述的方法，所述荧光坐标系的所述Y轴和X轴正交。

3.根据权利要求1所述的方法，所述工序(1)为进行2次以上所述对照核酸和所述探针对的杂交而获得2个点以上的荧光坐标来确定各坐标的代表值M的工序；且

所述工序(2)中，所述直线为通过所述交点O和所述代表值M的中央直线。

4.根据权利要求2所述的方法，所述工序(1)为进行2次以上所述对照核酸和所述探针对的杂交而获得2个点以上的荧光坐标来确定各坐标的代表值M的工序；且

所述工序(2)中，所述直线为通过所述交点O和所述代表值M的中央直线。

5.根据权利要求3所述的方法，

所述工序(1)进而含有下述处理，即，在通过交点O和所述2个点以上的荧光坐标的多条直线中，选择与所述中央直线的倾角有差异的直线，将其设为误差线；

所述工序(2)含有下述处理，即，

(a)由所述中央直线和X轴之间的角度α(弧度)求出校正值C＝π/2÷α的处理、

(b)将所述中央直线和误差线所成的角度设为误差角θ(弧度)并由其求出校正误差角θ’(弧度)＝θ(弧度)×校正值C的处理。

6.根据权利要求4所述的方法，

所述工序(1)进而含有下述处理，即，在通过交点O和所述2个点以上的荧光坐标的多条直线中，选择与所述中央直线的倾角有差异的直线，将其设为误差线；

所述工序(2)含有下述处理，即，

(a)由所述中央直线和X轴之间的角度α(弧度)求出校正值C＝π/2÷α的处理、

(b)将所述中央直线和误差线所成的角度设为误差角θ(弧度)并由其求出校正误差角θ’(弧度)＝θ(弧度)×校正值C的处理。

7.根据权利要求1～6中的任一项所述的方法，进而含有以下的工序，

(4)标绘使第2多态性用对照核酸与第2多态性检测用探针对杂交而获得的荧光坐标的工序；

(5)将正比于通过交点O和所述工序(4)中标绘的荧光坐标的直线的倾角的值设为校正值C₂的工序；

(6)对多个第2多态性检测用探针对进行工序(4)及(5)，在各探针对间比较校正值C₂，将校正值C₂为最小的探针对确定为适合于第2多态性检测的探针对的工序。

8.根据权利要求7所述的方法，所述工序(4)为进行2次以上所述第2多态性用对照核酸和所述第2多态性检测用探针对的杂交而获得2个点以上的荧光坐标来确定各坐标的代表值M₂的工序；且

所述工序(5)中，所述直线为通过所述交点O和所述代表值M₂的第2中央直线。