[发明专利]存储器件有效

专利信息
申请号: 201510445785.8 申请日: 2015-07-27
公开(公告)号: CN105679361B 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 金东槿 申请(专利权)人: 爱思开海力士有限公司
主分类号: G11C11/4091 分类号: G11C11/4091
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 俞波;许伟群
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 存储 器件
【说明书】:

一种存储器件,可以包括:第一单元块到第N单元块;第一位线感测放大器到第(N‑1)位线感测放大器,其中的第K位线感测放大器将第K单元块的位线和第(K+1)单元块的位线之间的电势差放大;一个或更多个第一最外位线感测放大器,适用于将第一节点和第一单元块的位线之间的电势差放大,其中,用于驱动第一节点的驱动能力与用于驱动第一单元块的位线的驱动能力不同;以及一个或更多个第二最外位线感测放大器,适用于将第二节点和第N单元块的位线之间的电势差放大,其中,用于驱动第二节点的驱动能力与用于驱动第N单元块的位线的驱动能力不同。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2014年12月8日提交的第10-2014-0174704号韩国专利申请的优先权,该韩国专利申请通过引用整体合并于此。

技术领域

本专利文件涉及一种存储器件。

背景技术

诸如双数据率同步动态随机存取存储器(DDR SDRAM)包括大量的存储单元。随着存储器件的集成度的快速提高,在存储器件中包括的存储单元的数量也已增加。安置这样的存储单元以形成阵列,该阵列称作单元块。

存储器件的结构可以划分成折叠式位线结构和开放式位线结构。

基于安置在存储器件的核心区中的位线感测放大器,折叠式位线结构包括安置在同一单元块中的驱动位线和参考位线。驱动位线指在其中驱动数据的位线,参考位线指在放大操作期间作为参考的位线。因此,由于在驱动位线和参考位线中反射相同的噪声,所以从驱动位线产生的噪声与从参考位线产生的噪声可以抵消。通过这种噪声的抵消,折叠式位线结构有助于支持稳定的器件操作。基于位线感测放大器,开放式位线结构包括安置在不同的单元块中的驱动位线和参考位线。因此,由于在驱动位线中产生的噪声与在参考位线中产生的噪声不同,所以开放式位线结构更容易受这样的噪声影响。

在折叠式位线结构中,单位存储单元被设计为具有8F2结构,在开放式位线结构中,单位存储单元被设计为具有6F2结构。这种单位存储单元结构是确定存储器件的尺寸的因素。基于相同的数据储存容量,具有开放式位线结构的存储器件可以被设计得比具有折叠式位线结构的存储器件小。

图1是描述具有折叠式位线结构的存储器件的示图。

参见图1,具有折叠式位线结构的存储器件可以包括第一单元块110和第二单元块120以及感测放大器130。

第一单元块110和第二单元块120中的每个可以包括用于储存数据的多个存储单元阵列。第一单元块110可以包括第一位线BL1和第一位线条BLB1,第二单元块120可以包括第二位线BL2和第二位线条BLB2。

感测放大器130响应于第一位线分离信号BISH和第二位线分离信号BISL来感测并放大第一位线BL1和第一位线条BLB1的电压电平,或者感测并放大第二位线BL2和第二位线条BLB2的电压电平。感测放大器130包括晶体管和锁存型感测放大电路,晶体管响应于第一位线分离信号BISH和第二位线分离信号BISL而导通,锁存型感测放大电路执行感测放大操作。

如上所述,折叠式位线结构包括安置在一个单元块中的驱动位线和参考位线。例如,当将第一位线分离信号BISH激活到逻辑高电平而将第二位线分离信号BISL去激活到逻辑低电平时,数据沿着激活的字线WL传送至第一位线BL1或第一位线条BLB1。此时,数据所传送至的位线变成驱动位线,与数据所传送至的位线成对的位线变成参考位线。然后,感测放大器130的感测放大电路感测经由第一位线BL1和第一位线条BLB1而传送的数据,并将感测的数据放大到与上拉电源电压RTO和下拉电源电压SB相对应的电压电平,其中,上拉电源电压RTO和下拉电源电压SB作为电源被提供给感测放大电路。

图2是描述具有开放式位线结构的存储器件的示图。

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