[发明专利]残像测试、消除方法和残像测试、消除装置

权利要求书

1.一种残像测试方法，其特征在于，包括：

显示面板播放残像测试画面；

向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；

通过数据线获取所述像素电极上的电位信息；

所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，还包括：

断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；

然后，将所述数据线悬空。

2.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息，具体为：

打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，所述数据线输出的信号即为所述像素电极上的电位信息。

3.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，

所述第二固定电平信号为公共电压信号。

4.根据权利要求1或2所述的残像测试方法，其特征在于，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号，具体为：

打开所述显示面板上的所有栅线，通过数据线向像素电极加载第一固定电平信号。

5.根据权利要求4所述的残像测试方法，其特征在于，所述第一固定电平信号为接地电压信号。

6.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，

所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致。

7.根据权利要求1所述的残像测试方法，其特征在于，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号通过如下方式实现:

设定显示面板播放各像素一致的灰阶图像或者全黑图像。

8.一种残像消除方法，其特征在于，包括：

步骤S1、通过权利要求1-6任一项所述的残像测试方法获取像素电极的电位信息；

步骤S2、根据获得的电位信息对灰阶电压进行调整。

9.根据权利要求8所述的残像消除方法，其特征在于，重复执行步骤S1和步骤S2，直至像素电极的电位信息满足预设条件。

10.根据权利要求8或9所述的残像消除方法，其特征在于，获取像素电极的电位信息时，如果采用下述方式：先断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平，然后再将所述数据线悬空；打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息；则步骤S2具体包括：

将获得的所述电位信息与所述第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值；

对灰阶电压进行调整：如果所述像素电极电位比所述第一固定电平高，则将灰阶电压降低一个所述差值；如果所述像素电极电位比所述第一固定电平低，则将灰阶电压抬高一个所述差值。

11.根据权利要求8或9所述的残像消除方法，其特征在于，步骤S2中通过调整伽马电压来调整所述灰阶电压。

12.根据权利要求9所述的残像消除方法，其特征在于，所述像素电极的电位信息满足预设条件，具体为：

所述像素电极电位与所述第一固定电平的差值满足预设值。