[发明专利]残像测试、消除方法和残像测试、消除装置

说明书

本发明实施例公开了一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置，涉及显示领域，能够解决现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。本发明的残像测试方法，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。

技术领域

本发明涉及显示领域，尤其涉及一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置。

背景技术

残像是现在液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)常见的缺陷之一，所谓残像，是指LCD长时间显示同一画面的情况的下，当突然切换到另一画面的时候，会隐约看到上一个画面的显示内容。究其原因在于，在液晶显示器的制作过程中，由于各种因素的存在，液晶盒内会存在一些离子，如图2(a)所示，显示时这些离子按照正负电场(即驱动电场)的方向移动，当正负电场对离子的移动能量不均一时，这些离子会逐渐向一边聚集，当聚集的离子达到一定浓度的时候，会改变面板的透过率，在突然切换下一个画面时，如图2(b)所示，聚集的离子有些无法马上散开，会继续保持原来的画面，因此出现图像残留。

现有残像测试通常采用如下方法：长时间(一般约1小时)显示图1所示九宫格画面，然后切换到灰阶画面下就会有出现残像现象，根据残像消失的时间长短来评价该显示器的图像残留水平。残像消失的时间长短一般是通过光学观察面板表面亮度来实现的，进而基于这种评价进行修正，存在残像水平变好变坏不明显，评价不够准确，无法进行准确修正的问题。

发明内容

本发明的实施例提供一种残像测试、消除方法和残像测试、消除装置，解决了现有残像评定不准确，无法进行准确修正的问题。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

一种残像测试方法，包括：显示面板播放残像测试画面；向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号；通过数据线获取所述像素电极上的电位信息。

所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息，具体为：打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，所述数据线输出的信号即为所述像素电极上的电位信息。

优选地，所述通过数据线获取所述像素电极上的电位信息之前，还包括：断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平；然后，将所述数据线悬空。

可选地，所述第二固定电平信号为公共电压信号。

可选地，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号，具体为：打开所述显示面板上的所有栅线，通过数据线向像素电极加载第一固定电平信号。

可选地，所述第一固定电平信号为接地电压信号。

优选地，所述残像测试画面沿着数据线延伸方向颜色一致。

可选地，所述向所述显示面板的像素电极加载第一固定电平信号通过如下方式实现:设定显示面板播放各像素一致的灰阶图像或者全黑图像。

本发明实施例还提供一种残像消除方法，包括：步骤S1、通过上述任一项所述的残像测试方法获取像素电极的电位信息；步骤S2、根据获得的电位信息对灰阶电压进行调整。

进一步地，所述残像消除方法还包括：重复执行步骤S1和步骤S2，直至像素电极的电位信息满足预设条件。

优选地，获取像素电极的电位信息时，如果采用下述方式：先断开数据线与像素电极的连接，然后向所述数据线输入第二固定电平信号直至所述数据线的电位变为第二固定电平，然后再将所述数据线悬空；打开所述显示面板上的所有栅线，使所述数据线与所述像素电极导通，通过所述数据线获取所述像素电极上的电位信息；则步骤S2具体包括：

将获得的所述电位信息与所述第一固定电平信号进行比较，求出像素电极电位与第一固定电平的差值；