[发明专利]全自动IC电信号测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 201510453805.6 申请日: 2015-07-29
公开(公告)号: CN104965169A 公开(公告)日: 2015-10-07
发明(设计)人: 居水荣 申请(专利权)人: 江苏杰进微电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/26
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 213022 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 全自动 ic 电信号 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种全自动IC电信号测试装置,是对IC器件进行测试的全自动IC电信号测试装置,其特征在于所述全自动IC电信号测试装置包括:

图像生成模块,产生测试图像,所述测试图像规定供给至上述IC器件的测试信号;

时序信号生成模块,产生表示将测试信号供给至上述IC器件的时序的时序信号;

滤波模块,对所述测试图像进行滤波,输出表示与所述测试图像相对应控制信号;

波动处理模块,根据所述控制信号而使所述时序信号延迟,借此将跳跃施加至所述时序信号;以及

波形图,以施加了跳跃的所述时序信号为基准,生成己形成所述测试图像的测试信号。

2.根据权利要求1所述的全自动IC电信号测试装置,其特征在于还包括施加控制模块,其输入用于指定是否对所述时序信号施加跳跃的施加控制信号,当被指定不施加跳跃时,将所述控制信号设为不施加跳跃的值。

3.根据权利要求1所述的全自动IC电信号测试装置,其特征在于还包括求和模块,将表示与对应于测试图像的跳跃不同种类信号,与所述控制信号相加。

4.根据权利要求1所述的全自动IC电信号测试装置,其特征在于还包括:

概率波动模块,输出表示随机跳跃的随机跳跃信号;以及

求和模块,将所述随机跳跃信号与所述控制信号相加,

所述概率波动模块包括:

线性反馈移位寄存器,包括规定段的移位寄存器,并自所述移位寄存器中末段的寄存器产生虚拟随机信号;

求和模块,输出相加值,所述相加值是将所述移位寄存器中所含的多个寄存器的比特値相加而获得的值;

求差模块,输出半值相减值,所述半值相减值是从所述相加值减去多个寄存器数的半值而获得的值,所述多个寄存器用于储存由所述求和模块相加的比特値;以及

概率输出模块,输出与所述半值相减值相对应的所述随机跳跃信号。

5.根据权利要求1所述的全自动IC电信号测试装置,其特征在于还包括:信号输出模块,将测试信号输出至所述IC器件;

信号输入模块,输入根据所述测试信号而自所述IC器件输出的输出信号;

图像生成模块,产生预期值图像,所述预期值图像规定自所述IC器件输出的输出信号;

时序信号生成模块,产生表示对所述预期值图像与所述输出信号进行比较的时序的选通信号;

滤波模块,对所述预期值图像进行滤波,输出表示与所述预期值图像相对应控制信号;

波动处理模块,根据所述控制信号而使所述选通信号延迟,以此来将跳跃施加至所述选通信号;以及

比较模块,以施加了跳跃的所述选通信号的时序,来对所述输出信号与所述预期值图像进行比较。

6.一种采用1至5任意一项权利要求所述的全自动IC电信号测试装置的测试方法,其特征在于:其特征在于所述测试方法包括:

产生测试图像的阶段,所述测试图像规定供给至所述IC器件的测试信号;

产生时序信号的阶段,所述时序信号表示将测试信号供给至所述IC器件的时序;

对所述测试图像进行滤波,并输出表示与所述测试图像相对应控制信号的阶段;

根据所述控制信号而使所述时序信号延迟,由此来将跳跃施加至所述时序信号的阶段;以及

以施加了跳跃的所述时序信号为基准,生成形成所述测试图像的测试信号的阶段。

7.根据权利要求6所述的全自动IC电信号测试装置的测试方法,其特征在于包括:

将测试信号输出至所述IC器件的阶段;

根据所述测试信号,输入从所述IC器件输出的输出信号的阶段;

产生预期值图像的阶段,所述预期值图像规定自所述IC器件输出的输出信号;

产生选通信号的阶段,所述选通信号表示对所述预期值图像与所述输出信号进行比较的时序;

对所述预期值图像进行滤波,并输出表示与所述预期值图像相对应控制信号的阶段;

根据所述控制信号而使所述选通信号延迟,由此对所述选通信号施加跳跃的阶段;以及

在施加了跳跃的所述选通信号的时序中,对所述输出信号与所述预期值图像进行比较的阶段。

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