[发明专利]一种防短路的顶发射OLED器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201510453984.3 申请日: 2015-07-29
公开(公告)号: CN105118924B 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 钱敏;廖良生;王照奎;史晓波;马杰;柳渊 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: H01L51/50 分类号: H01L51/50;H01L51/52;H01L51/56
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司32103 代理人: 陶海锋,张淏
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 短路 发射 oled 器件 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于微电子技术领域,具体涉及一种防短路的顶发射OLED器件及其制备方法。

背景技术

有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)是极具潜力的新一代发光器件,在平面显示技术、大面积发光照明等方面有着非常广阔的应用。它具有自发光、全固态、宽视角、快响应、抗低温、可实现低压驱动及柔性显示等特性,显示出极强的竞争力及发展潜力。

在显示应用方面,主动矩阵有机发光二极管(AMOLED)是主要的发展趋势,其驱动是由薄膜晶体管来控制的。如果采用传统的底发射的形式,则光从衬底出射时,必然被玻璃衬底上的电路金属导线和TFT所遮挡,从而影响其开口率。目前,无论是基于白色有机发光二极管(WOLED)配合彩色滤光片的OLED显示器,还是基于红绿蓝有机发光二极管(RGBOLED)的OLED显示器,大部分厂商都倾向于采用顶发射的OLED形式,使其开口率理论上可以达到100%,进而提高器件寿命和能源利用率。

顶发射有机电致发光器件通过透明的或者半透明的顶部阴极发光,阳极则采用高反射率的金属材料作为反射层,其可以制作在任意的衬底之上。当然还可以采用倒置的结构,从而与传统非晶硅薄膜晶体管(a-Si TFT)n型沟道CMOS工艺达到无缝集成。

在现有的工业化生产工艺中,底部阳极一般采用ITO/Ag/ITO结构。一方面,溅射透明铟锡氧化物(ITO)和光刻两道工艺步骤给整个制程带来了极大的复杂度;另一方面,溅射ITO所用的铟是比较稀缺和贵重的元素,导致生产成本增加。另外,顶部阴极假如也采用高能量的溅射ITO的话,还会对有机层带来损伤。因此,如何简化工艺流程,避免使用高能量的ITO溅射,是大家努力探索的方向。

在可见光波段,银的反射率比铝要强,其导电率是金属中最强的,并且相对于铝,其不易被氧化变性。作为OLED的阳极,其功函数比铝稍大,因此是比较理想的阳极材料。但是,由于银对玻璃衬底的浸润差,导致其作为阳极材料蒸发在玻璃衬底上时粗糙度太大。器件在工作时容易造成尖端放电,从而导致短路。在OLED器件制备中,一般溅射二氧化硅作为玻璃衬底上的缓冲层,这无疑增加了制程的复杂度。如何有效发挥银的长处并且同时简化制程,也是本领域亟待解决的问题。

发明内容

针对上述问题,本发明提供了一种防短路的顶发射OLED器件,其包括衬底以及在所述衬底上由底部至顶部依次蒸镀的阳极、空穴注入层、空穴传输层、发光层、电子传输层(兼作间隔层)、电子注入层和阴极,其特征在于:

所述阳极为具有双层结构的铝/银复合阳极,其中铝层介于所述衬底和银层之间,所述铝层的厚度为50~60nm并且以0.3~0.5nm/s的蒸发速率经蒸镀而得,所述银层的厚度为40~50nm并且以0.2~0.3nm/s的蒸发速率经蒸镀而得;

所述空穴注入层的厚度为5~15nm;

所述空穴传输层的厚度为35~45nm;

所述发光层的厚度为15~25nm;

所述电子传输层的厚度为10~15nm;

所述电子注入层的厚度为10~20nm;

所述阴极为半透明的纯银阴极,其厚度为15~25nm。

优选的,在上述技术方案中,所述衬底可以选用本领域常用的任何衬底材料,例如硅片、二氧化硅、玻璃等,优选硅片或玻璃,更优选玻璃。

优选的,在上述技术方案中,所述阳极中的铝层的厚度为56nm,银层的厚度为44nm。

优选的,在上述技术方案中,所述空穴注入层的材料为稀土金属氧化物或者有机材料;所述稀土金属氧化物选自氧化钼(MoO3)、氧化铼(ReO3)、氧化钨(WO3)中的任意一种,优选氧化钼;所述有机材料选自聚(3,4-亚乙二氧基噻吩)-聚(苯乙烯磺酸)(PEDOT:PSS)、4,4',4''-三(N-3-甲基苯基-N-苯基氨基)三苯基胺(m-MTDATA)、4,4',4''-三[N-(萘-2-基)-N-苯基氨基]三苯基胺(2-TNATA)中的任意一种,优选PEDOT:PSS(结构如下所示);所述空穴注入层的厚度为10nm。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州大学,未经苏州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201510453984.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top