[发明专利]SRAM存储单元、SRAM电路及其读写方法有效

专利信息
申请号: 201510458420.9 申请日: 2015-07-30
公开(公告)号: CN105070315B 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 王旭;梁馨文;张译文 申请(专利权)人: 孤山电子科技(上海)有限公司
主分类号: G11C11/413 分类号: G11C11/413
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅
地址: 201108 上海市闵*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 栅极连接 读写 第二控制信号 第一控制信号 列选择信号 读写性能 寄生电容 数据感知 读操作 写操作 功耗 字线
【权利要求书】:

1.一种SRAM存储单元,其特征在于,包括:参与写操作的第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第三MOS晶体管、第四MOS晶体管、第五MOS晶体管、第六MOS晶体管、第七MOS晶体管以及参与读操作第八MOS晶体管、第九MOS晶体管、第十MOS晶体管;所述第一MOS晶体管的栅极连接第二节点,源极和漏极分别接地和连接第一节点;所述第二MOS晶体管的栅极连接第一节点,源极和漏极分别接地和连接第二节点;所述第三MOS晶体管的栅极连接第一控制信号,源极和漏极分别连接第三节点和第一节点;所述第四MOS晶体管的栅极连接第二控制信号,源极和漏极分别连接第三节点和第二节点;所述第五MOS晶体管的栅极连接第二节点,源极和漏极分别连接电源电压和第一节点;所述第六MOS晶体管的栅极连接第一节点,源极和漏极分别连接电源电压和第二节点;所述第七MOS晶体管的栅极连接字线,源极和漏极分别接地和连接第三节点;所述第八MOS晶体管的栅极连接第二节点,源极和漏极分别接地和连接第四节点;所述第九MOS晶体管的栅极连接列选择信号,源极和漏极分别连接第四节点和第五节点;所述第十MOS晶体管的栅极连接字线,源极和漏极分别连接第五节点和子位线。

2.根据权利要求1所述的SRAM存储单元,其特征在于,所述第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第三MOS晶体管、第四MOS晶体管、第七MOS晶体管、第八MOS晶体管、第九MOS晶体管、第十MOS晶体管均为NMOS晶体管。

3.根据权利要求1所述的SRAM存储单元,其特征在于,所述第五MOS晶体管、第六MOS晶体管均为PMOS晶体管。

4.一种SRAM电路,其特征在于,包括:以多行和多列布置的多个如权利要求1所述的SRAM存储单元、多条字线和多条位线、全局位线、多个与非门以及多个下拉晶体管;列选择信号为一列SRAM存储单元共用,字线信号为一行SRAM存储单元共用;其中,每条所述子位线连接与非门的一个输入端,所述与非门的输出端连接一个下拉晶体管的栅极,所述下拉晶体管的源极接地、漏极连接所述全局位线。

5.如权利要求4所述的SRAM电路,其特征在于,所述子位线和全局位线分别通过一个上拉晶体管与电源电压相连,所述上拉晶体管的栅极由预充电信号控制。

6.根据权利要求4所述的SRAM电路,其特征在于,所述SRAM存储单元中,第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第三MOS晶体管、第四MOS晶体管、第七MOS晶体管、第八MOS晶体管、第九MOS晶体管、第十MOS晶体管均为NMOS晶体管。

7.根据权利要求4所述的SRAM电路,其特征在于,所述SRAM存储单元中,第五MOS晶体管、第六MOS晶体管均为PMOS晶体管。

8.一种SRAM电路写方法,采用权利要求1所述的SRAM存储单元,其特征在于,第一控制信号和第二控制信号通过控制第三MOS晶体管和第四MOS晶体管从而控制第三节点以及第一节点或第二节点连通,字线通过控制第七MOS晶体管从而控制地和第三节点的连通,进而将地信号写入到SRAM存储单元中。

9.一种SRAM电路读方法,采用权利要求1所述的SRAM存储单元,其特征在于,列选择信号控制所述第九MOS晶体管的栅极,字线信号控制第十MOS晶体管的栅极,当列选择信号和字线信号同时有效时发生读操作。

10.一种SRAM电路读写方法,采用权利要求1所述的SRAM存储单元,其特征在于,写操作时,第一控制信号和第二控制信号通过控制第三MOS晶体管和第四MOS晶体管从而控制第三节点以及第一节点或第二节点连通,字线通过控制第七MOS晶体管从而控制地和第三节点的连通,进而将地信号写入到SRAM存储单元中;读操作时,列选择信号控制所述第九MOS晶体管的栅极,字线信号控制第十MOS晶体管的栅极,当列选择信号和字线信号同时有效时发生读操作。

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