[发明专利]一种测量经纬仪高度的方法有效
申请号: | 201510464911.4 | 申请日: | 2015-07-31 |
公开(公告)号: | CN105066954B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 董均贵;吕海波 | 申请(专利权)人: | 桂林理工大学 |
主分类号: | G01C3/22 | 分类号: | G01C3/22 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 541004 广*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 经纬仪 高度 方法 | ||
1.一种测量经纬仪高度的方法,其特征在于,具体步骤为:
将经纬仪置于测量时的基点D上方并对中整平,A点为经纬仪水平轴线与竖直轴线的交点,将带垂直水准气泡的塔尺立于距经纬仪0.95~1.05米的位置并调整至垂直,保持塔尺与经纬仪的竖直轴线平行,再将经纬仪调至水平,并标出经纬仪物镜十字丝横丝在塔尺上的投影线与塔尺的交点B,然后在塔尺上B点放一块直径10厘米的反光体,反光体从B点缓慢向下滑动,同时经纬仪视线随反光体缓慢向下移动,当经纬仪目镜中能够观测到基点D在反光体中成的像时,反光体停止移动,调节经纬仪使物镜十字丝交点对准反光体中基点D的像,固定经纬仪,拿走反光体,将此时物镜十字丝横丝在塔尺上的投影线与塔尺的交点C标出,用钢直尺量出B和C两点间的距离;
运用光的反射原理,由光入射角与反射角相等关系和平行线间夹角关系能够求出经纬仪水平轴线到基点D的距离,即得出经纬仪高度, =2。
2.如权利要求1所述的测量经纬仪高度的方法,其特征在于:塔尺用其它可控垂直装置代替。
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