[发明专利]一种测量经纬仪高度的方法有效
申请号: | 201510464911.4 | 申请日: | 2015-07-31 |
公开(公告)号: | CN105066954B | 公开(公告)日: | 2018-01-12 |
发明(设计)人: | 董均贵;吕海波 | 申请(专利权)人: | 桂林理工大学 |
主分类号: | G01C3/22 | 分类号: | G01C3/22 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 541004 广*** | 国省代码: | 广西;45 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 测量 经纬仪 高度 方法 | ||
技术领域
本发明属于工程测量技术领域,特别涉及一种测量经纬仪高度的方法。
背景技术
目前测量经纬仪仪器高度的方法主要是用钢尺直接测量基点到经纬仪侧面的距离,再经过一定三角转化求出仪器高度。此方法测量误差较大,且人为因素影响大,不能满足工程测量高精度要求。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足,提供一种测量经纬仪高度的方法。
本发明的思路:运用光的反射原理,由光入射角与反射角相等关系和平行线间夹角关系能够求出经纬仪水平轴到基点的距离,即得出经纬仪高度。
具体步骤为:
将经纬仪置于测量时的基点D上方并对中整平,A点为经纬仪水平轴线与竖直轴线的交点,将带垂直水准气泡的塔尺立于距经纬仪0.95~1.05米的位置并调整至垂直,保持塔尺与经纬仪的竖直轴线平行,再将经纬仪调至水平,并标出经纬仪物镜十字丝横丝在塔尺上的投影线与塔尺的交点B,然后在塔尺上B点放一块直径10厘米的反光体,反光体从B点缓慢向下滑动,同时经纬仪视线随反光体缓慢向下移动,当经纬仪目镜中能够观测到D点在反光体中成的像时,反光体停止移动,调节经纬仪使物镜十字丝交点对准反光体中D点的像,固定经纬仪,拿走反光体,将此时物镜十字丝横丝在塔尺上的投影线与塔尺的交点C标出,用钢直尺量出B和C两点间的距离由光的反射原理可知,∠ACE=∠DCE=∠BAC,即为经纬仪的高度。
本发明中使用的塔尺能够用其它可控垂直装置代替。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:本发明原理简单明确、材料简单廉价、操作简便、精度高、易掌握、便于工程运用、易于大规模推广。
附图说明
图1是本发明实施例中经纬仪平测示意图。
图2是本发明实施例中经纬仪斜测示意图。
图中标记:1-经纬仪;2-脚架;3-塔尺;4-平面镜。
具体实施方式
下面将结合具体实施例对本发明进行详细阐述,以使本发明的优点和特征能更易被本领域技术人员理解。
实施例:
请参阅图1、图2,本实施例的具体步骤为:
将经纬仪1通过脚架2置于测量时的基点D上方并对中整平,A点为经纬仪1水平轴线与竖直轴线的交点,将带垂直水准气泡的塔尺3立于距经纬仪1一米的位置并调整至垂直,保持塔尺3与经纬仪1的竖直轴线平行,再将经纬仪1调至水平,并标出经纬仪1物镜十字丝横丝在塔尺3上的投影线与塔尺3的交点B,然后在塔尺3上B点放一块直径10厘米的平面镜4,平面镜4从B点缓慢向下滑动,同时经纬仪1视线随平面镜4缓慢向下移动,当经纬仪1目镜中能够观测到D点在平面镜4中成的像时,平面镜4停止移动,调节经纬仪1使物镜十字丝交点对准平面镜4中D点的像,固定经纬仪1,拿走平面镜4,将此时物镜十字丝横丝在塔尺3上的投影线与塔尺3的交点C标出,用钢直尺量出B和C两点间的距离由光的反射原理可知,∠ACE=∠DCE=∠BAC,即为经纬仪1的高度。
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