[发明专利]贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备及方法

权利要求书

1.一种贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备，包括供料装置，用于预先存储有待检测整片贴片电阻；传送装置，用于在所述设备上电时，实时传送待检测的整片贴片电阻；其特征在于，所述设备还包括：图像采集装置、处理装置和镭射装置；

所述图像采集装置，用于采集所述传送装置传送的所述整片贴片电阻的影像信息；

所述处理装置，用于根据采集的所述影像信息检测所述整片贴片电阻的质量，并对检测到的残坏的电阻颗粒进行标记处理；以及根据检测到的残坏的电阻颗粒生成控制信号；

所述镭射装置，用于根据所述控制信号，对所述整片贴片电阻中进行标记处理的残坏颗粒进行剔除处理。

2.根据权利要求1所述的贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备，其特征在于，所述处理装置包括：

获取模块，用于从接收的所述影像信息中获取每个贴片电阻颗粒的坐标位置及所述每个贴片电阻颗粒的参数；

存储模块，用于存储合格贴片电阻颗粒的标准参数以及贴片电阻颗粒标准公差范围；所述标准公差范围包括：完好范围、部分残坏范围和全残范围；

比较模块，用于将每个贴片电阻颗粒的参数与存储的合格贴片电阻颗粒的标准参数进行第一比较处理，并将第一比较处理得到的公差值与标准公差范围进行第二比较处理，并根据第二比较处理中公差值所在的预设公差范围确定所述贴片电阻颗粒的检测结果；

标记模块，用于根据所述检测结果生成处于所述部分残坏范围的贴片电阻颗粒中须标记的电阻颗粒坐标，并对所述电阻颗粒坐标对应的部位进行镭切标记。

3.根据权利要求2所述的贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备，其特征在于，所述镭射装置包括激光识别模块和激光剔除模块；

所述激光识别模块用于根据所述控制信号，识别残坏的电阻颗粒中进行标记处理的部位；

所述激光剔除模块用于根据所述控制信号，对识别的标记处理部位进行剔除处理。

4.根据权利要求3所述的贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备，其特征在于，还包括收料分类装置；

所述收料分类装置包括用于存储完好的贴片电阻与可标识处理的半残贴片电阻的一组收料分类装置；以及，存储超过不良颗数的全残贴片电阻的另一组收料分类装置。

5.根据权利要求4所述的贴片电阻中不良颗粒的检测与处理设备，其特征在于，所述待检测的整片贴片电阻为多个；多个所述贴片电阻的检测和处理过程同时进行。

6.一种贴片电阻中不良颗粒的检测与处理方法，其特征在于，所述方法包括：

在检测到待检测的整片贴片电阻进入采集区域时，采集所述整片贴片电阻的影像信息；

根据采集的所述影像信息检测对应的所述整片贴片电阻的质量；

在质量检测结果中，对检测到的残坏的电阻颗粒进行标记处理；

对所述整片贴片电阻中进行标记处理的残坏颗粒进行镭射剔除处理。

7.根据权利要求6所述的贴片电阻中不良颗粒的检测与处理方法，其特征在于，所述采集所述整片贴片电阻的影像信息包括：

采集进入所述采集区域的每一个所述待检测的整片贴片电阻的影像信息；

从所述影像信息中，获取每个贴片电阻颗粒的坐标位置及每个贴片电阻颗粒的参数。

8.根据权利要求7所述的贴片电阻中不良颗粒的检测与处理方法，其特征在于，所述根据采集的所述影像信息检测对应的所述整片贴片电阻的质量包括：

将每个贴片电阻颗粒的参数与存储的合格贴片电阻颗粒的标准参数进行第一比较处理；

将第一比较处理得到的公差值与存储的标准预设范围进行第二比较处理；所述标准公差范围包括：完好范围、部分残坏范围和全残范围；

根据第二比较结果中公差值所在的预设公差范围确定所述贴片电阻颗粒的检测结果。

9.根据权利要求8所述的贴片电阻中不良颗粒的检测与处理方法，其特征在于，所述在质量检测结果中，对检测到的残坏的电阻颗粒进行标记处理包括：

根据质量检测结果，确定待检测的整片贴片电阻所处的预设公差范围；

在检测到预设公差范围处于部分残坏范围时，生成待检测的整片贴片电阻颗粒中须标记的电阻颗粒坐标；

确定所述电阻颗粒坐标对应的部位，并对确定的所述部位进行镭切标记处理。

10.根据权利要求9所述的贴片电阻中不良颗粒的检测与处理方法，其特征在于，所述方法还包括：

当检测到待检测的整片贴片电阻中全部电阻颗粒均为完好时，将对应的所述整片贴片电阻存储到第一存储装置中；

当检测到待检测的整片贴片电阻中第一预设数量的电阻颗粒为残坏时，将标记及镭射剔除处理后的贴片电阻存储到第一存储装置中；

当检测到待检测的整片贴片电阻中第二预设数量的电阻颗粒为残坏时，将对应的整片贴片电阻存储到第二存储装置中；其中，所述第一预设数量小于所述第二预设数量；

所述方法还包括：

在未检测到待检测的整片贴片电阻进入采集区域时，生成提示工作人员的报警信号。