[发明专利]一种晶片测试方法

权利要求书

1.一种晶片测试方法，其特征在于，该晶片测试方法包括如下步骤：

步骤1:根据晶片及探针卡的信息，计算同测时探针台系统托盘的最短走向，并储存数据；

步骤2：测试仪把走向方式的信息通过GPIB接口给探针台系统发送命令，控制探针台系统托盘的走向；

步骤3：探针台系统取得测试仪的走向信息后，探针台系统托盘移动到的相应位置，扎针，然后探针台系统给测试仪发送可以开始测试的信息；

步骤4：测试仪收到开始测试的命令后，测试程序开始测试，测试完毕后，把测试结果和一个移动位置测试结束的命令发送给探针台系统，探针台系统收到信息后，把针移开，等待接收下一个移动位置的坐标信息；

步骤5：探针台系统和测试仪重复步骤2至步骤4的操作，直到测试仪给探针台系统发送整枚晶片测试完毕的信息；

步骤6：对完成测试后的数据信息进行筛选和校准。

2.如权利要求1所述的晶片测试方法，其特征在于，步骤2中所述的测试仪把走向方式的信息通过GPIB接口给探针台系统发送命令具体为：探针台系统装载好晶片后，给测试仪发送等待接收坐标信息的命令；测试仪接收到可以发送坐标信息的命令后，根据测试的走向信息取得一个移动位置的坐标参数信息，然后测试仪把坐标信息通过GPIB接口发送给探针台系统。

3.如权利要求1所述的晶片测试方法，其特征在于，在步骤6中使用筛选侦测机构对所取得的测试数据进行筛选判断，并与一储存原始数据进行校准核对。

4.如权利要求3所述的晶片测试方法，其特征在于，当与储存原始数据进行校准核对后，发现数据显示异常的，重复测试动作，没有发现异常的，测试结束。

5.如权利要求3所述的晶片测试方法，其特征在于，该测试方法还提供一用于显示数据的显示屏。