[发明专利]一种改善元件立碑现象的PCB制作方法在审
申请号: | 201510483707.7 | 申请日: | 2015-08-07 |
公开(公告)号: | CN105208792A | 公开(公告)日: | 2015-12-30 |
发明(设计)人: | 齐军;杨林 | 申请(专利权)人: | 深圳崇达多层线路板有限公司 |
主分类号: | H05K3/34 | 分类号: | H05K3/34 |
代理公司: | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人: | 冯筠 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区沙井街道新桥横岗下工*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 改善 元件 立碑 现象 pcb 制作方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种印制电路板的制作方法,具体地说涉及一种改善元件立碑现象的印制电路板的制作方法。
背景技术
印制电路板(PrintedCircuitBoard,简称PCB)又称印刷电路板,是采用电子印刷术制作而成的,是一种重要的电子部件,是电子元件的支撑体和电子器件电气连接的载体。随着科技的飞速进步,电子产品不断向小型化和高功能化发展,短小轻薄已逐渐成为电子产品的主流发展趋势,随之电子产品中的印制电路板也向着高精度、高密度和高可靠性发展,不断缩小体积、提高性能。
随着元件重量越来越轻,当其通过表面贴装工艺的回流焊接过程焊接在PCB上时,常会出现贴片元件的一端离开焊盘表面,元件呈倾斜或直立,其状若石碑,称为石碑现象,也称吊桥现象或曼哈顿现象,它和浮起、位移一起被认为是回流焊接工艺中常见的缺陷。立碑现象一般发生在芯片元件(如贴片电容和贴片电阻)中,而且元件体积越小越容易发生。立碑现象发生的主要原因是元件两端焊盘上的焊膏在回流熔化时,元件两个焊端的表面张力不平衡,张力较大的一端拉着元件沿其底部旋转而导致另一端离开焊盘表面,元件两端张力不平衡的原因主要是元件两端温度不平衡,使得元件两端的焊膏未同时熔化。
现有技术中改善立碑现象的主要方法通常是在表面贴装技术(SurfaceMountTechnology,简称SMT)贴片过程中加以控制:更换多温区炉、控制炉温、改变炉内热风回流方式、更换导热性与厚度均匀性好的基板、更换均匀性好的锡膏等。但是这些控制方法存在以下缺点:(1)成本高,往往需要更换更先进且价值昂贵的设备才能有所改善;(2)控制流程复杂;(3)人力物力耗费严重,最终还需人工对遗留立碑器件检修才能最终完成。
发明内容
为此,本发明所要解决的技术问题在于现有改善元件立碑现象的PCB制作方法成本高、流程复杂、人力物力耗费严重,从而提出一种生产成本低、自动化程度高、流程简单的改善元件立碑现象的PCB的制作方法。
为解决上述技术问题,本发明的技术方案为:
本发明提供了一种改善元件立碑现象的PCB制作方法,其包括以下步骤:
S1、在PCB上制作对应元件两端的两个焊盘,两个所述焊盘沿所述元件的中线对称设置;
S2、在所述焊盘表面制作焊膏层,所述焊膏层尺寸小于所述焊盘尺寸;
S3、优化PCB的布线方式。
作为优选,所述步骤S3包括以下步骤:
a.确定通过所述元件的焊盘互连走线的电流量;
b.确定所述焊盘互连走线互连形式。
作为优选,所述焊盘互连走线的互连形式为十字型或一字型。
作为优选,所述两个焊盘两侧的互连走线尺寸一致。
作为优选,所述焊膏层单边尺寸较所述焊盘单边尺寸小1-2mil。
作为优选,所述元件两端的两个所述焊盘尺寸一致。
本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点:
(1)本发明提供的改善元件立碑现象的PCB制作方法,其包括以下步骤:S1、在PCB上制作沿元件的中线对称的焊盘;S2、在焊盘表面制作焊膏层,焊膏层尺寸小于焊盘尺寸;S3、优化PCB的布线方式。首先,本申请通过精确控制焊盘的对称性,保证了元件两端熔融焊锡表面张力平衡。其次,现有的PCB焊盘制作工艺中中,焊膏层与焊盘的大小是等大的,而焊盘焊膏层的大小决定刷锡膏的面积大小,在焊接的过程中,液化后的锡在器件压力的作用下会向周边流动,甚至溢出本体器件范围,使得器件焊盘在熔化后的锡液中易出现位移,旋转,导致立碑、开路、连锡等现象,本方案中将焊膏层适当缩小,减少器件在融焊后的锡液中位移的空间,减小器件位移,从而有效降低了元件立碑、位移、连锡现象的发生几率。
(2)本发明提供的改善元件立碑现象的PCB制作方法,还通过改良焊盘的走线互连形式优化了PCB的布线方式,现有技术中,PCB焊盘设计中,两侧直接辅铜连接处理,无法精确控制焊盘两侧铜的尺寸,常常因为器件连接的铜大小不一导致器件两侧散热效果不一致,导致锡膏在焊盘上的熔融速度不一致,最终产生立碑现象;本申请则将焊盘的走线设计为十字型或一字型,焊盘两侧的走线数量、尺寸和形状一致,使器件两端热传导通道尺寸、形状一致,传热效果相同,从而减少了器件两端锡膏熔融速度的差异,进一步有效降低了器件立碑现象的发生,降低了生产成本。
附图说明
为了使本发明的内容更容易被清楚的理解,下面根据本发明的具体实施例并结合附图,对本发明作进一步详细的说明,其中
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