[发明专利]识别彩膜基板上隔垫物的方法及隔垫物高度的测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种识别彩膜基板上隔垫物的方法及隔垫物高度的测量方法。

背景技术

液晶显示装置(LCD，LiquidCrystalDisplay)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用。现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示装置，其包括液晶显示面板及背光模组(backlightmodule)。通常液晶显示面板由彩膜基板(CF，ColorFilter)、薄膜晶体管基板(TFT，ThinFilmTransistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，LiquidCrystal)及密封胶框(Sealant)组成。其中，液晶层厚度即盒厚(CellGap)主要通过设置在阵列基板和彩膜基板之间的隔垫物(PostSpacer，PS)的高度来进行控制，液晶层厚度对液晶显示装置的结构参数和显示质量有重要的影响。

目前使用的隔垫物一般通过掩膜、光刻等工艺形成在彩膜基板上的黑矩阵上；在彩膜基板和薄膜晶体管基板对盒后即形成液晶显示面板，处于彩膜基板和薄膜晶体管基板之间的隔垫物对上述两个基板进行支撑以及缓冲作用，从而维持预定的盒厚，保证画面显示的稳定。

目前，大尺寸高分辨率的电视越来越受到消费者青睐。在大尺寸液晶显示面板中，通常会使用两种类型以上的隔垫物，如在在彩膜基板上设置主隔垫物(MainPS)、及辅助隔垫物(SubPS)，起到多级缓冲的作用，以防止各种Mura或者不良的发生。其中，主隔垫物的高度大于辅助隔垫物的高度，辅助隔垫物的数量大于主隔垫物的数量，两者需要通过不同工艺形成。当液晶面板成盒后，主隔垫物会有一定的压缩量，支撑盒厚，处于压缩状态，而辅助隔垫物没有压缩量。当液晶面板受到过大外力的时候，辅助隔垫物才被压缩，起到辅助支撑作用。

彩膜垫料高度测量机(CFPSH)主要负责对CF玻璃基板上的隔垫物的高度进行量测。图1为彩膜基板上主隔垫物和辅助隔垫物的俯视图，请参阅图1，位于基板10上的主隔垫物20和辅助隔垫物30虽然高度不同，存在段差，但两者均为锥形柱状物，且表面形貌几乎无差异，坐落位置相邻，从而导致彩膜垫料高度测量机内的CCD(ChargeCoupledDevice，CCD)相机从彩膜基板上方无法自动识别主隔垫物与辅助隔垫物，所以在测量中经常出现量错隔垫物的现象。例如：测量主隔垫物时测到了辅助隔垫物，或者测量辅助隔垫物时测到了主隔垫物。

目前针对彩膜垫料高度测量机量测错误的问题有3种改善方法：

1、对测量错误的点位进行重新测量，此种方法属于亡羊补牢，并且再测一遍，彩膜垫料高度测量机也还是不能确定哪个是主隔垫物，哪个是辅助隔垫物，只是碰概率，所以成功率不高，而且会造成设备生产节拍的延长。

2、在RGB色阻膜上制作辨识角，即在主隔垫物所在的子像素上做特别的设计，区别于其他子像素，这样机台就可以根据辨识角来找到主隔垫物，从而进行量测。但是此种方法会影响到产品的开口率，对于部分低端产品适用，对于高端产品是满足不了开发设计的。

3、根据黑白画面灰阶匹配的方式区分RGB三种颜色的子像素，再根据主隔垫物与RGB像素的位置关系找到主隔垫物进而进行量测。此方法的问题点在于RGB三色的灰阶与光阻特性、膜厚、制程差异有关联，CCD相机抓取到的黑白影像很难区分细微的灰阶差异，所以此方法只是对某些特定产品适用。

因此，上述第一种方法并不能改善量错隔垫物的问题，而第二和第三种方法只是针对个别低端显示产品有效。

发明内容

本发明的目的在于提供一种识别彩膜基板上隔垫物的方法，能够准确识别主隔垫物与辅助隔垫物，不影响产品开口率，简单易行，且同时适用于高端显示产品与低端显示产品。

本发明的还目的在于提供一种隔垫物高度的测量方法，该方法简单易行，适用范围广，能够准确测量主隔垫物与辅助隔垫物的高度，从而保证液晶显示器的质量。

为实现上述目的，本发明提供一种识别彩膜基板上隔垫物的方法，包括如下步骤：

步骤1、提供待测量的彩膜基板及CCD相机，所述彩膜基板包括基板、设在基板上的主隔垫物、及辅助隔垫物，所述主隔垫物的高度大于辅助隔垫物的高度；

步骤2、使用CCD相机对所述主隔垫物、及辅助隔垫物进行俯拍；

步骤3、下降CCD相机的镜头进行对焦，直至获得第一个清晰的隔垫物图像，该第一个被拍摄到清晰图像的隔垫物为主隔垫物，仍为模糊图像的隔垫物为辅助隔垫物。