[发明专利]一种电子类产品加速贮存的试验方法

权利要求书

1.一种电子类产品加速贮存的试验方法，其特征在于该方法的步骤为：

(1)统计组成电子类产品的元器件的种类和数量；

(2)根据电子类产品自然贮存的环境，得到影响电子类产品贮存寿命期限的关键环境因素，得到加速贮存环境应力的种类，再根据步骤(1)得到的元器件在关键环境因素下的使用极限，得到加速贮存环境应力的量级；

(3)按照“Arrhenius温度加速模型”计算出各种类元器件在加速贮存环境下的加速因子，Arrhenius温度加速模型如下：

式中：t_ui－在加速贮存环境条件下，第i种元器件贮存的时间；

t_ei－在自然贮存环境条件下，第i种元器件贮存的时间；

E_ai－第i种元器件的激活能，单位ev，查询元器件手册及标准得到；

k－波尔兹曼常数；

T_u－自然贮存温度，单位k；

T_e—加速贮存温度，单位k；

A_Fi－第i种元器件在加速贮存环境下的加速因子；

i＝1，2，3…,m,m为电子类产品中元器件种类数,m为自然数；

(4)根据步骤(1)中第i种元器件在自然贮存环境下的通用失效率λ_ui，用每种元器件的通用失效率乘以相对应种类元器件的数量，得到第i种元器件在自然贮存环境下的总的通用失效率λ_Ui＝n_i·λ_ui，用总的通用失效率再乘以该种类元器件在加速贮存环境下的加速因子A_Fi，得到第i种元器件在加速贮存环境下总的失效率λ_Ai＝n_i·λ_ui·A_Fi，n_i为第i种元器件的个数；λ_ui查询元器件手册及标准得到；

(5)将电子类产品各种类元器件在自然贮存环境下总的通用失效率相加，得到电子类产品在自然贮存环境下总的通用失效率将电子类产品各种类元器件在加速贮存环境下总的失效率相加，得到电子类产品在加速贮存环境下总的失效率

(6)利用电子类产品在加速贮存环境下总的失效率λ_AT除以电子类产品在自然贮存环境下总的通用失效率λ_UT，得到电子类产品在加速贮存环境下的加速因子A_FT；

(7)用电子类产品需要达到的贮存寿命时间除以步骤(6)得到的电子类产品在加速贮存环境下的加速因子A_FT，得到加速贮存所需的试验时间；

(8)根据步骤(2)得到的加速贮存环境应力的种类和量级以及步骤(7)得到的试验时间，完成加速贮存试验。

2.根据权利要求1所述的一种电子类产品加速贮存的试验方法，其特征在于：步骤(8)中的加速贮存试验过程分解为若干个循环，每个循环期的时间进行累计，在一个循环期结束后对电子类产品进行电性能测试，如果电性能测试有不合格的情况，则说明电子类产品达不到要求的贮存寿命期限，如果整个试验过程中所有测试结果均合格，则说明电子类产品能够达到要求的贮存寿命期限。

3.根据权利要求1或2所述的一种电子类产品加速贮存的试验方法，其特征在于：步骤(2)中的关键环境因素是指环境的温度和湿度，加速贮存环境应力的种类为温度和湿度。

4.根据权利要求3所述的一种电子类产品加速贮存的试验方法，其特征在于：加速贮存环境温度应力的量级为60-90℃。

5.根据权利要求4所述的一种电子类产品加速贮存的试验方法，其特征在于：加速贮存环境温度应力的量级为80℃。

6.根据权利要求3所述的一种电子类产品加速贮存的试验方法，其特征在于：加速贮存环境湿度应力的量级为70％-95％。