[发明专利]一种电子类产品加速贮存的试验方法

说明书

本发明涉及一种电子类产品加速贮存的方法，即将某种产品存放于比其使用环境更恶劣的环境中，使其贮存时间相对于自然贮存大幅减少，在相对短的贮存时间内达到其要求的贮存寿命期限，从而获得其贮存寿命的一种方法，属于电子类产品贮存寿命期限技术领域。本发明的方法可在相对短的贮存时间内，定量、准确的获得整机产品的贮存寿命期限。

技术领域

本发明涉及一种电子类产品加速贮存的试验方法，即将某种产品存放于比其使用环境更恶劣的环境中，使其贮存时间相对于自然贮存大幅减少，在相对短的贮存时间内达到其要求的贮存寿命期限，从而获得其贮存寿命的一种方法，属于电子类产品贮存寿命期限技术领域。

背景技术

电子类产品是指由多种类、多数量电子元器件及集成电路组成，具有各种电气性能的单机设备。因各种电子类产品均有贮存寿命期限的要求，所以定量获取电子类产品贮存寿命期限就显得非常重要。要想获得电子类产品贮存寿命期限一般有两种方法，第一种为：自然贮存方法，即：将某种产品参照其实际使用环境进行贮存，当达到其贮存寿命期限的时间后，对其进行通电测试，如其性能良好就说明其贮存寿命满足要求；第二种为：加速贮存方法，即：将某种产品存放于比其使用环境更恶劣的环境中，使其贮存时间相对于自然贮存大幅减少，在相对短的贮存时间内达到其要求的贮存寿命期限后，对其进行通电测试，如其性能良好就说明其贮存寿命满足要求。

目前国内对单一种类电子元器件贮存寿命有较成熟的加速模型和试验方法；但对于由多种类、多数量电子元器件及集成电路组成的单机设备还没有各方认可的加速模型和试验方法。对有贮存期要求的单机设备一般都采用自然贮存方式获得其贮存寿命，这种方式不光费时、费力，而且对新研设备要想获得其贮存期限，必须等待相当长的时间，自然贮存的方法已不适应当今使用要求。因此，找到一种切实可行并获得各方认可的加速贮存方法，在短期内获得设备贮存期限就显得尤为重要。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有技术的上述不足，提出一种电子类产品加速贮存的试验方法，该方法切实可行并已获得各方认可。该方法利用相对恶劣的贮存环境对电子类产品进行加速贮存，在短期时间内定量获得设备贮存寿命期限。此方法弥补了自然贮存费时、费力的不足，同时也为新研设备贮存寿命期限的定量评定提供了一种切实可行的方法。

本发明的技术方案如下：

一种电子类产品加速贮存的试验方法，该方法的步骤为：

(1)统计组成电子类产品的元器件的种类和数量；

(2)根据电子类产品自然贮存的环境，得到影响电子类产品贮存寿命期限的关键环境因素，进而得到加速贮存环境应力的种类，再根据步骤(1)得到的元器件在关键环境因素下的使用极限，得到加速贮存环境应力的量级；

(3)查询元器件手册及标准，得到步骤(1)中各种类元器件的激活能(E_ai)，按照“Arrhenius温度加速模型”计算出各种类元器件在加速贮存环境下的加速因子，Arrhenius温度加速模型如下：

式中：t_ui－在加速贮存环境条件下，第i种元器件需贮存的时间；

t_ei－在自然贮存环境条件下，第i种元器件需贮存的时间；

E_ai－第i种元器件的激活能(ev)；

k－波尔兹曼常数(8.617×10^-5ev/k)；

T_u－自然贮存温度(k)；

T_e—加速贮存温度(k)；

A_Fi－第i种元器件在加速贮存环境下的加速因子；