[发明专利]用于空间解析荧光相关光谱学的光垫显微镜有效
申请号: | 201510526165.7 | 申请日: | 2012-02-14 |
公开(公告)号: | CN105116529B | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 麦克尔·克诺普;马尔特·瓦克斯穆特;热雷米·卡普拉德 | 申请(专利权)人: | 欧洲分子生物学实验室(EMBL) |
主分类号: | G02B21/00 | 分类号: | G02B21/00;G02B21/06;G02B21/16;G02B21/36 |
代理公司: | 11336 北京市磐华律师事务所 | 代理人: | 董巍;谢栒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 空间 解析 荧光 相关 光谱 显微镜 | ||
1.显微镜装置,其具有照明光路(20)和至少一个观察光路(40,50),所述照明光路(20)用于通过照明物镜(21)来照明样品(8),所述至少一个观察光路(50)用于通过检测物镜(41)而自第一观察方向观察所述样品(8),所述显微镜装置包括:
在所述照明光路(20)中的照明光路聚焦装置(23),所述照明光路聚焦装置(23)限定基本上二维的物体照明区域(22),所述物体照明区域(22)沿着所述照明光路(20)的照明方向和其垂直方向延伸;
用于定位所述基本上二维的物体照明区域(22)的第一扫描模块;和
在所述照明光路(20)中的照明区域界定装置(27,29),所述照明区域界定装置(27,29)用于有选择地照明所述基本上二维的物体照明区域(22)的部分(10),
其中,所述至少一个观察光路(50)包括第一透镜(571)、第二透镜(572)和可调节的检测孔(573),所述可调节的检测孔(573)在所述第一透镜(571)和所述第二透镜(572)之间并置于所述第一透镜(571)的成像平面中。
2.如权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述照明光路聚焦装置(23)包括柱面透镜、畸变成形透镜、一维阵列的球面透镜或一维阵列的非球面透镜中的至少一个。
3.如权利要求1或2所述的显微镜装置,其中,所述照明光路聚焦装置(23)包括至少一个畸变成形反射镜。
4.如权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述照明光路聚焦装置(23)进一步包括第二扫描模块,所述第二扫描模块用于产生所述基本上二维的物体照明区域(22)。
5.如权利要求4所述的显微镜装置,其中,所述第二扫描模块是检流计驱动镜。
6.如权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述照明区域界定装置(27,29)包括至少第一孔(29),所述第一孔(29)用于在所述照明方向界定所述基本上二维的物体照明区域(22)的所述部分。
7.如权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述照明区域界定装置包括至少第二孔(27),所述第二孔(27)用于在所述照明方向的垂直方向上界定所述基本上二维的物体照明区域的所述部分。
8.如权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述照明区域界定装置(27,29)包括光束整形器。
9.如权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述至少一个观察光路(40,50)的第一观察方向是与所述照明方向和所述基本上二维的物体照明区域(22)基本垂直的。
10.如权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述可调节的检测孔(573)能够在一维或二维上减小有效观察区域。
11.如权利要求10所述的显微镜装置,其中,所述基本上二维的物体照明区域(22)的所述部分(10)和所述有效观察区域是一致和/或重合的。
12.如权利要求11所述的显微镜装置,其中,所述基本上二维的物体照明区域(22)的所述部分(10)和所述有效观察区域能够一致地和/或重合地移动穿过所述样品(8)。
13.如权利要求1所述的显微镜装置,其中,所述显微镜装置还包括附加物镜(61),所述附加物镜(61)用于以第二观察方向观察所述样品(8),所述第二观察方向不同于所述第一观察方向。
14.如权利要求13所述的显微镜装置,其中,所述第二观察方向和所述第一观察方向或所述照明方向中的至少一者之间的角度不等于90°。
15.如权利要求13所述的显微镜装置,其中,所述附加物镜(61)是荧光显微镜的部件。
16.如权利要求13所述的显微镜装置,其中,所述附加物镜(61)是倒置显微镜(6)的部件。
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