[发明专利]一种ATE机台文件的生成方法及装置

权利要求书

1.一种自动测试化设备ATE机台文件的生成方法，其特征在于，包括：

获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及所述待测试芯片IP对应的第一测试模板文件，所述待测试接口的测试时序信息包括所述待测试接口在不同测试时序下的测试值，所述第一测试模板文件中包含所述待测试芯片IP中待测试接口的接口信息，所述第一测试模板文件为用户可编辑表格文件；

根据第一测试模板文件中包含的待测试接口的接口信息，将所述待测试接口的测试时序信息添加至所述第一测试模板文件中，得到第二测试模板文件；

从所述第二测试模板文件中读取不同测试时序下所述待测试接口的测试值，根据所述不同测试时序下所述待测试接口的测试值生成ATE机台文件。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试模板文件包括EXCEL表格文件或数据库表格文件。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据第一测试模板文件中包含的待测试接口的接口信息，将所述待测试接口的测试时序信息添加至所述第一测试模板文件中，得到第二测试模板文件之前，所述方法还包括：

获取所述待测试芯片IP的时序文件，所述待测试芯片IP的时序文件包括所述待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及所述待测试芯片IP对应的第一测试模板文件之前，所述方法还包括：

根据所述待测试芯片IP的测试需求，从所述待测试芯片IP的测试模式说明文件中，提取所述待测试芯片IP的测试参数信息，所述测试参数信息包括所述待测试接口的接口信息，所述待测试芯片IP的测试需求包括用户需要测试的待测试接口的接口标识；

根据所述待测试芯片IP的测试参数信息，生成第一测试模板文件。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述待测试接口包括所述待测试芯片IP的寄存器接口、所述待测试芯片IP的输入接口、所述待测试芯片IP的输出接口中的至少一个；所述待测试接口的接口信息包括所述待测试接口的接口标识以及所述待测试接口的接口属性信息，所述待测试接口的接口属性信息用于表示所述待测试接口所属接口类型。

6.一种自动测试化设备ATE机台文件的生成装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及所述待测试芯片IP对应的第一测试模板文件，所述待测试接口的测试时序信息包括所述待测试接口在不同测试时序下的测试值，所述第一测试模板文件中包含所述待测试芯片IP中待测试接口的接口信息，所述第一测试模板文件为用户可编辑表格文件；

处理模块，用于根据所述获取模块获取的第一测试模板文件中包含的待测试接口的接口信息，将所述获取模块获取的所述待测试接口的测试时序信息添加至所述第一测试模板文件中，得到第二测试模板文件；

生成模块，用于从所述处理模块得到的所述第二测试模板文件中读取不同测试时序下所述待测试接口的测试值，根据所述不同测试时序下所述待测试接口的测试值生成ATE机台文件。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述测试模板文件包括EXCEL表格文件或数据库表格文件。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于：

所述获取模块，还用于获取所述待测试芯片IP的时序文件，所述待测试芯片IP的时序文件包括所述待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

提取模块，用于根据所述待测试芯片的测试需求，从所述待测试芯片IP的测试模式说明文件中，提取所述待测试芯片IP的测试参数信息，所述测试参数信息包括所述待测试接口的接口信息，所述待测试芯片的测试需求包括用户需要测试的待测试接口的接口标识；

所述生成模块，还用于根据所述提取模块提取的所述待测试芯片IP的测试参数信息，生成第一测试模板文件。

10.根据权利要求6至9任一项所述的装置，其特征在于，所述待测试接口包括所述待测试芯片IP的寄存器接口、所述待测试芯片IP的输入接口、所述待测试芯片IP的输出接口中的至少一个；所述待测试接口的接口信息包括所述待测试接口的接口标识以及所述待测试接口的接口属性信息，所述待测试接口的接口属性信息用于表示所述待测试接口所属接口类型。