[发明专利]一种ATE机台文件的生成方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及半导体测试领域，尤其涉及一种ATE机台文件的生成方法及装置。

背景技术

目前，在半导体测试领域中，在进行ATE(Automatic Test Equipment，自动测试化设备)测试时，若要得到ATE机台所需要的ATE机台文件，现有技术通常通过以下两种方式来获取：

第一，由机台测试人员按照芯片IP负责人提供的IP测试模式说明文件中的测试时序手动编写ATE机台文件，但是，这种方式需要依赖于芯片IP负责人与机台测试工程师之间的沟通，而沟通过程中难免会出现信息的遗漏，从而导致测试工程师反复的修正ATE机台文件。

第二，通过ATE机台文件转换软件来将EDA(Electronic Design Automation，电子设计自动化)文件转换成机台测试的ATE机台文件，虽然这种方法避免了芯片IP负责人与机台测试工程师之间的沟通，但是，由于这种方式需要IP负责人提供EDA的仿真文件，因此，当需要对ATE机台文件进行更改时，需要芯片IP负责人通过EDA仿真重新生成EDA仿真文件，从而导致整个转换过程效率低，耗时过长。

发明内容

本发明的实施例提供一种ATE机台文件的生成方法及装置，以提高ATE机台文件转换过程的转换效率。

为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：

第一方面，提供一种ATE机台文件的生成方法，包括：

获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及所述待测试芯片IP对应的第一测试模板文件，所述待测试接口的测试时序信息包括所述待测试接口在不同测试时序下的测试值，所述第一测试模板文件中包含所述待测试芯片IP中待测试接口的接口信息，所述第一测试模板文件为用户可编辑表格文件；

根据第一测试模板文件中包含的待测试接口的接口信息，将所述待测试接口的测试时序信息添加至所述第一测试模板文件中，得到第二测试模板文件；

从所述第二测试模板文件中读取不同测试时序下所述待测试接口的测试值，根据所述不同测试时序下所述待测试接口的测试值生成ATE机台文件。

第二方面，提供一种自动测试化设备ATE机台文件的生成装置，包括：

获取模块，用于获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及所述待测试芯片IP对应的第一测试模板文件，所述待测试接口的测试时序信息包括所述待测试接口在不同测试时序下的测试值，所述第一测试模板文件中包含所述待测试芯片IP中待测试接口的接口信息，所述第一测试模板文件为用户可编辑表格文件；

处理模块，用于根据所述获取模块获取的第一测试模板文件中包含的待测试接口的接口信息，将所述获取模块获取的所述待测试接口的测试时序信息添加至所述第一测试模板文件中，得到第二测试模板文件；

生成模块，用于从所述处理模块得到的所述第二测试模板文件中读取不同测试时序下所述待测试接口的测试值，根据所述不同测试时序下所述待测试接口的测试值生成ATE机台文件。

本发明的实施例提供的ATE机台文件的生成方法及装置，获取待测试芯片IP中待测试接口的测试时序信息以及待测试芯片IP对应的第一测试模板文件，该待测试接口的测试时序信息包括待测试接口在不同测试时序下的测试值，第一测试模板文件是根据待测试芯片IP中待测试接口的接口信息生成的，第一测试模板文件为用户可编辑表格文件，根据第一测试模板文件中包含的待测试接口的接口信息，将待测试接口的测试时序信息添加至所述第一测试模板文件中，得到第二测试模板文件，然后，从第二测试模板文件中读取不同测试时序下待测试接口的测试值，根据不同测试时序下待测试接口的测试值生成ATE机台文件。这样当需要对ATE机台文件进行更改时，技术人员便可直接在基于待测试芯片IP的待测试接口的接口信息生成的第一测试模板文件中，添加更改后的待测试芯片IP的测试时序来得到新的ATE机台文件，相比于现有技术在每次更改ATE机台文件时需要按照包含更改后的待测试芯片IP的测试时序的IP测试模式说明文件重新进行EDA仿真来获得对应的EDA仿真文件，然后利用转换软件将EDA仿真文件转化为需要ATE机台文件，本发明提供的方案更为快捷及方便，且整体的ATE机台文件转换过程的转换效率更高。

附图说明