[发明专利]一种高精度电压校准方法

权利要求书

1.一种高精度电压校准方法,其特征在于：该方法步骤如下：

S1、设置电压值VREF为电压采样基准值；

S2、修正电压保护点比较阈值Value；

S3、对外部电池电压逐个进行AD采样与校准，并修正总电压采样值value_AD；

S4、比较电压保护点比较阈值Value和总电压采样值value_AD的大小并依据一定的判决准则进行判决；

所述步骤S2还包括如下分步骤：

S21、读取外部参考基准电压值VCCREF并判断是否读取成功，若否，循环执行本步骤，若是，执行下一步操作；

S22、对电压采样基准电压值VREF进行校准；

S23、依据以下公式进行电压保护点比较阈值Value的修正，

Value =Vcom/VREF*ADbit

其中，Value为电压保护比较阈值变量，Vcom为修正前的电压保护值，VREF为电压采样基准值，ADbit为MCU的AD位值；

所述步骤S3还包括如下分步骤：

S31、对外部电池电压进行AD采样得到B1_AD，B2_AD, B3_AD, B4_AD……B(N)_AD变量，其中Ｎ≧２；

S32、计算上一步骤中各个外部电池电压B(n)_AD的采样误差并校准；

S33、依据以下公式进行总电压AD采样值value_AD的修正，

Value_AD=∑[B(n)_AD ± error(n)_AD]

其中， value_AD为校准后的总电压AD采样值，B(n)_AD为电池B(n)的AD采样值， error(n)_AD为电池B(n)的AD误差值。

2.根据权利要求1所述的高精度电压校准方法，其特征在于，所述±符号的取舍准则为：当校准前的采样值小于理论值时，采用加法运算；当校准前的采样值大于理论值时，采用减法运算。

3.根据权利要求1-2中任一所述的高精度电压校准方法，其特征在于，所述步骤S4的判断准则可以为过压保护准则或欠压保护准则。

4.根据权利要求3所述的高精度电压校准方法，其特征在于，所述步骤S4的判断准则过压保护准则时，判断如下：

当Value_AD<Value时，返回步骤S2；当Value_AD>value时,电路进入过压保护模式。

5.根据权利要求3所述的高精度电压校准方法，其特征在于，所述步骤S4的判断准则欠压保护准则时，判断如下：

当Value_AD>Value时，返回步骤S2；当Value_AD<value时,电路进入欠压保护模式。