[发明专利]一种高精度电压校准方法

说明书

本发明涉及一种高精度电压校准方法，该方法步骤如下：S1、设置电压值VREF为电压采样基准值；S2、修正电压保护点比较阈值Value；S3、对外部电池电压逐个进行AD采样与校准，并修正总电压采样值value_AD；S4、比较电压保护点比较阈值Value和总电压采样值value_AD的大小并依据一定的判决准则进行判决。与现有技术相比，本发明对电压保护点比较阈值Value的修正，可以实现对电压检测保护点的灵活调整，自动化程度高，满足不同客户不同产品功能需求。其次，对外部电池电压的逐个校准与对总电压的修正，提高了采样电压的精确度。最后，MCU选型AD位数越多，校准后的结果精度越高。

技术领域

本发明涉及电压校准领域，具体地说是一种高精度电压校准方法。

背景技术

目前电动工具领域，产品方案分为硬件方案和软件方案，硬件方案在做电压检测保护时，单节电池电压在不进行生产校准的情况下，精度一般为±30mV，电压精度取决于硬件芯片生产厂家。但是由于硬件方案在产品设计应用上，使用不够灵活，存在局限性，不能完全满足不同客户不同产品功能需求。现有方法中，电压检测保护点唯一，且是在设计之初就是固定不变的，这不利于对不同产品的流通应用，也不利于电压的动态保护。另一方面，在不进行校准的情况下,电池电压的AD采样误差都较大，批量生产超过±50mV，现有方法较难实现±30mV精度的要求。

发明内容

针对上述现有技术，本发明要解决的技术问题是提供一种高精度电压校准方法，有效解决产品不够灵活及精度较低的问题。

为了解决上述问题，本发明的高精度电压校准方法, 步骤如下：

S1、设置电压值VREF为电压采样基准值；

S2、修正电压保护点比较阈值Value；

S3、对外部电池电压逐个进行AD采样与校准，并修正总电压采样值value_AD。

S4、比较电压保护点比较阈值Value和总电压采样值value_AD的大小并依据一定的判决准则进行判决。

优选的，所述步骤S2还包括如下分步骤：

S21、读取外部参考基准电压值VCCREF并判断是否读取成功，若否，循环执行本步骤，若是，执行下一步操作；

S22、对电压采样基准电压值VREF进行校准；

S23、依据以下公式进行电压保护点比较阈值Value的修正，

Value =Vcom/VREF*ADbit

其中，Value为电压保护比较阈值变量，Vcom为修正前的电压保护值，VREF为电压采样基准值，ADbit为MCU的AD位值。

优选的，所述步骤S3还包括如下分步骤：

S31、对外部电池电压进行AD采样得到B1_AD，B2_AD, B3_AD, B4_AD……B(N)_AD变量，其中Ｎ≧２；

S32、计算上一步骤中各个外部电池电压B(n)_AD的采样误差并校准；

S33、依据以下公式进行总电压AD采样值value_AD的修正，

Value_AD=∑[B(n)_AD ± error(n)_AD]

其中， value_AD为校准后的总电压AD采样值，B(n)_AD为电池B(n)的AD采样值，error(n)_AD为电池B(n)的AD误差值。

优选的，所述±符号的取舍准则为：当校准前的采样值小于理论值时，采用加法运算；当校准前的采样值大于理论值时，采用减法运算。

优选的，所述步骤S4的判断准则可以为过压保护准则或欠压保护准则。