[发明专利]坏像素校正方法以及使用该方法的装置

权利要求书

1.一种坏像素校正方法，由处理单元执行，包含：

读取一帧中的一块；

标示上述块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个；

检测上述块中包含的弱像素对，其中上述弱像素对包含二个标示为上述弱像素的像素；

在判断到上述弱像素对中被标示为弱像素的两个像素会与标示为坏像素的单独像素的坐标位置连续时或者在判断到被标示为上述弱像素为中心的全通道的mxm像素组成的搜寻块中有且仅有一个坏像素时，将上述弱像素对中的上述像素从上述弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素；以及

针对标示为上述坏像素及上述由弱像素转变的坏像素的每一上述像素进行校正，

其中，上述标示上述块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个的步骤根据一信息而执行，其中，取得围绕每一上述像素的全通道的nxn像素作为内块，取得围绕每一上述像素的相同通道的nxn像素作为外块，其中m大于n，上述信息指示上述内块中的与每一上述像素具有显著差异的周围像素的数目和围绕上述外块中的与每一上述像素具有显著差异的周围像素的数目。

2.如权利要求1所述的坏像素校正方法，其中上述帧为具有贝尔格式图像的帧，其中标示上述块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个的步骤，还包含：

针对上述块中的待测像素：

取得上述内块中的多个周围像素与上述待测像素间具有显著差异的像素数目的最终内计数；

取得上述外块中的多个周围像素与上述待测像素间具有显著差异的像素数目的最终外计数；以及

依据上述最终内计数以及上述最终外计数，标示上述待测像素为上述好像素、上述弱像素以及上述坏像素中的一个。

3.如权利要求2所述的坏像素校正方法，其中，取得上述内块中的多个周围像素与上述待测像素间具有显著差异的像素数目的最终内计数的步骤，还包含：

使用第一内计数器记录上述内块中的上述周围像素与上述待测像素间的正差异超过预设条件的第一像素数目；

使用第二内计数器记录上述内块中的上述周围像素与上述待测像素间的负差异超过上述预设条件的第二像素数目；以及

将上述第一像素数目以及上述第二像素数目的最大值当作上述最终内计数。

4.如权利要求2所述的坏像素校正方法，其中，取得上述外块中的多个周围像素与上述待测像素间具有显著差异的像素数目的最终外计数的步骤，还包含：

使用第一外计数器记录上述外块中的上述周围像素与上述待测像素间的正差异超过预设条件的第三像素数目；

使用第二外计数器记录上述外块中的上述周围像素与上述待测像素间的负差异超过上述预设条件的第四像素数目；以及

将上述第三像素数目以及上述第四像素数目的最大值当作上述最终外计数。

5.如权利要求2所述的坏像素校正方法，其中还包含：

判断上述块中是否包含纹理；以及

如果上述块中包含上述纹理，则标示上述待测像素为上述好像素。

6.如权利要求2所述的坏像素校正方法，其中，依据上述最终内计数以及上述最终外计数，标示上述待测像素为上述好像素、上述弱像素以及上述坏像素中的一个的步骤，还包含：

当上述最终外计数为第一预定计数值时，标示上述待测像素为上述弱像素。

7.如权利要求2所述的坏像素校正方法，其中，依据上述最终内计数以及上述最终外计数，标示上述待测像素为上述好像素、上述弱像素以及上述坏像素中的一个的步骤，还包含：

当上述最终外计数为第二预定计数值及上述最终内计数为第三预定计数值时，标示上述待测像素为上述坏像素；

当上述最终外计数器为上述第三预定计数值时，标示上述待测像素为上述坏像素；以及

当上述最终外计数小于或等于上述第二预定计数值时，标示上述待测像素为上述好像素，

其中第二预定计数值小于第三预定计数值。