[发明专利]坏像素校正方法以及使用该方法的装置

说明书

坏像素校正方法以及使用该方法的装置。本发明的实施例提出一种由处理单元执行的坏像素校正方法。读取一个帧中的一块，以及标示块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个。检测块中所包含的弱像素对，其中包含二个标示为弱像素的像素，以及将弱像素对中的像素从弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素。针对标示为坏像素及弱像素转变的坏像素的每一像素进行校正。

技术领域

本发明涉及一种图像处理技术，特别涉及一种坏像素校正方法以及使用该方法的装置。

背景技术

坏像素校正(BPC，bad pixel correction)是图像传感器中的坏位置数据，使用周围位置数据的插值来取代。然而，传统的坏像素检测(bad pixel detection)算法适合找出孤立的单一坏像素，但不适合找出由坐标位置连续的三个坏像素形成的短坏像素组(shortbad-pixel cluster)。因此，需要一种坏像素校正方法以及使用该方法的装置，用以克服如上所述的缺点。

发明内容

本发明的实施例提出一种由处理单元执行的坏像素校正方法。读取一个帧中的一块，以及标示块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个。检测块中所包含的弱像素对，其中包含二个标示为弱像素的像素，以及将弱像素对中的像素从弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素。针对标示为坏像素或弱像素转变的坏像素的像素进行校正。

本发明的实施例提出一种坏像素校正装置，至少包含相机模块控制器以及处理单元。相机模块控制器耦接于相机模块。处理单元耦接于相机模块控制器，通过相机模块控制器控制相机模块取得一个帧；读取帧中的一块；标示块中的每一像素为好像素、弱像素以及坏像素中的一个；检测块中包含的弱像素对，其中包含二个标示为弱像素的像素；将弱像素对中的像素从弱像素更新标示为弱像素转变的坏像素；以及针对标示为坏像素或弱像素转变的坏像素的每一像素进行校正。

本发明的前述坏像素校正方法及装置在动态坏像素校正(dynamic BPC)的条件下，先准确地标示出坏像素和好像素，而对于容易误判的弱像素，本发明还根据弱像素对与已准确标示的坏像素的位置关系判断是否构成短坏像素组，并且无需坐标计算，减少了计算量的同时降低了误判率。

附图说明

图1是依据本发明实施例的运算装置的系统架构图。

图2是依据本发明实施例由处理单元执行的坏像素校正方法流程图。

图3是依据本发明实施例由处理单元执行的坏像素检测示意图。

图4A是依据本发明实施例的待测Gr-像素的内块与外块取得示意图。

图4B是依据本发明实施例的待测R-像素的内块与外块取得示意图。

图4C是依据本发明实施例的待测B-像素的内块与外块取得示意图。

图5是依据本发明实施例的贝尔格式图像示意图。

【符号说明】

110处理单元； 130帧缓存器；

150易失性存储器； 170相机模块控制器；

190相机模块； S210～S250方法步骤；

S410～S460方法步骤；

430标志缓存器； 511、531、5515x5块；

513Gr-像素的内块； 515Gr-像素的外块；

533R-像素的内块； 535R-像素的外块；

533B-像素的内块； 535B-像素的外块；