[发明专利]阵列基板及其制造方法在审
申请号: | 201510552953.3 | 申请日: | 2015-09-01 |
公开(公告)号: | CN105185788A | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 许可 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/02 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 朱绘;徐彦圣 |
地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 及其 制造 方法 | ||
1.一种阵列基板的制造方法,包括:
形成非晶硅层;
将所述非晶硅层转化为多晶硅层;
对所述多晶硅层进行蚀刻,形成硅岛;
对所述硅岛进行离子植入工艺;
利用等离子体,对所述硅岛中的多晶硅进行补氢。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述等离子体包括氢气和氨气中的至少一种。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述等离子体还包括氮气。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述硅岛进行离子植入工艺,具体包括:
向所述硅岛中的多晶硅植入P型离子;
向所述硅岛中的多晶硅植入N型离子。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述非晶硅层转化为多晶硅层,具体为:
利用准分子激光退火工艺,将所述非晶硅层转化为多晶硅层。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在形成非晶硅层之前,还包括:
在衬底基板上形成遮光层;
在所述遮光层上形成氮化硅层;
在所述氮化硅层上形成氧化硅层。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:
形成栅极绝缘层、栅极金属层、间绝缘层、源漏极金属层、有机膜层、第一透明电极层、钝化层和第二透明电极层。
8.一种阵列基板,所述阵列基板中形成有多个硅岛,所述硅岛中的多晶硅填充有氢离子。
9.根据权利要求8所述的阵列基板,其特征在于,所述硅岛下方设置有遮光层,且所述硅岛与所述遮光层之间设置有氮化硅层和氧化硅层。
10.根据权利要求8所述的阵列基板,其特征在于,所述硅岛包括N型掺杂区和无掺杂区。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的