[发明专利]阵列基板及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201510552953.3 申请日: 2015-09-01
公开(公告)号: CN105185788A 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 许可 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/02
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 朱绘;徐彦圣
地址: 430070 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 阵列 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种阵列基板的制造方法,包括:

形成非晶硅层;

将所述非晶硅层转化为多晶硅层;

对所述多晶硅层进行蚀刻,形成硅岛;

对所述硅岛进行离子植入工艺;

利用等离子体,对所述硅岛中的多晶硅进行补氢。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述等离子体包括氢气和氨气中的至少一种。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述等离子体还包括氮气。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述硅岛进行离子植入工艺,具体包括:

向所述硅岛中的多晶硅植入P型离子;

向所述硅岛中的多晶硅植入N型离子。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,将所述非晶硅层转化为多晶硅层,具体为:

利用准分子激光退火工艺,将所述非晶硅层转化为多晶硅层。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在形成非晶硅层之前,还包括:

在衬底基板上形成遮光层;

在所述遮光层上形成氮化硅层;

在所述氮化硅层上形成氧化硅层。

7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,还包括:

形成栅极绝缘层、栅极金属层、间绝缘层、源漏极金属层、有机膜层、第一透明电极层、钝化层和第二透明电极层。

8.一种阵列基板,所述阵列基板中形成有多个硅岛,所述硅岛中的多晶硅填充有氢离子。

9.根据权利要求8所述的阵列基板,其特征在于,所述硅岛下方设置有遮光层,且所述硅岛与所述遮光层之间设置有氮化硅层和氧化硅层。

10.根据权利要求8所述的阵列基板,其特征在于,所述硅岛包括N型掺杂区和无掺杂区。

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